Poznámky redaktora
Obr. výrobců, kteří
udávají může chyba vzrůst °C. Samoohřev teplotního čidla
Výrobci čidel teploty udávají svých materiálech hodnoty maximálního měřicího proudu,
které neměly být překročeny, aby nedošlo zkreslení výsledků měření.
Chyba způsobená samoohřevem čidla závislá vedle velikosti měřícího proudu na
velikosti teplotního čipu, technologii montáže pouzdra, která významně ovlivňuje odvod
Joulova tepla bezprostředního okolí teplotního čipu samotném měřeném okolí.10-3 °C-1 -
a nebo pod označením TCR ppm/°C] zápisem 100/3850. udáván °C-1] příklad 100; 3,850.
Základní odpor teplotní koeficient jsou hlavními charakteristikami každého
odporového čidla. Teplotní koeficient a
určuje strmost křivky závislosti odporu teplotního odporového čidla teplotě viz obr. je
úměrná druhé mocnině měřícího proudu viz obr.
Minimalizace samoohřevu dosahuje rovněž pulsním měřením teploty, kdy jmenovitý
měřící proud čidla pouštěn pouze krátký okamžik, takže Joulovo teplo stačí
rozptýlit okolním materiálu.sensit. 13.
Samoohřev odporového čidla průchodem měřícího proudu měřícím odporem R
vzniká elektrický výkon který beze zbytku mění Joulovo teplo.5EN5IT
Vždy ale platí, chyba způsobená hysterezí polovině definovaného teplotního rozsahu
nesmí vybočit intervalu dané třídy přesnosti této teplotě. Vyšší proudové hodnoty měřícího
proudu nejenže způsobují systémovou chybu měření samoohřevem, ale jsou příčinou
zkrácené životnosti vlastního snímače teploty. Např.
Teplotní koeficient definován jako střední relativní změna odporu stupeň Celsia
mezi teplotami 100 °C. čidla
Pt1OO udávána doporučená hodnota měřicího proudu 0,8 pro třídu což za
běžných provozních podmínek znamená chybu menší než 0,05°C.cz -22.
www. Maximální hodnota měřícího proudu
je proto určena tak, aby jím způsobená chyba byla nižší než hodnoty tolerance čidla.
Vzorec pro výpočet chyby měření závislosti velikosti měřícího proudu tvar:
At Rl2
kde odpor [kQ], měřicí proud [mA] koeficient samoohřevu [°C/mW]. 12. Tento
koeficient různý pro různá prostředí různé typy čidel. zvyšuje
teplotu samotného teplotního čipu zatěžuje měření kladnou systematickou chybou
