Poznámky redaktora
5EN5IT
potenciálem. zkratu snímače teploty dochází nejčastěji
- porušením primární sekundární izolace obou vodičů kovovým předmětem
- ukroucením přívodního kabelu
U termočlánků mohou vyskytnout typy poruch:
1.
www.
Poruchy snímačů aktivním výstupem 4-20 mA:
1.
Tento jev předzvěstí následujícího zvýšení odporu posléze totální destrukce
korozí. Měřící proud vyšší než větev teplotním čipem přerušena
3.
2.p.
3.
- Koroze konektorů zvýšení celkového odporu přechodový odpor na
konektoru. Měření teploty
se stává naprosto neobjektivní vykazuje nedefinovatelně vyšší hodnoty. Výstupní napětí trvale rovno vstup teplotním čidlem zkratován
2. Chaoticky měnící termoelektrické napětí. Měřící proud nižší než 3,5 větev teplotním čipem zkratována
2. Výstupní napětí vykazuje chaotické změny velikosti části svého rozsahu teplotní
čidlo vykazuje nestabilitu některého výše uvedeného důvodu.cz -30. Místo, kterého atomy kovu migrují, zmenšuje svůj průřez, tím
lokálně roste elektrický odpor ním teplota čidla (samoohřev). Výstupní napětí vyšší, než vstup teplotním čidlem přerušen
3. Obvykle nevede přerušení obvodu.
4.
- Mechanicky přerušený přívodní vodič ukroucením, přeříznutím, přetržením a. Projevuje též náhodným
kolísáním odporové hodnoty tudíž kolísáním měřené teploty. Nulové termoelektrické napětí. Vždy bývá zjištěna
při rekalibraci termočlánku. Zkrat snímače teploty. Měřící proud mění chaoticky svou velikost části rozsahu teplotní čidlo vykazuje
nestabilitu některého výše uvedeného důvodu
4. Přerušený elektrický obvod snímače
-zvýše uvedených důvodů, kdy úplnému přerušení obvodu předchází postupně a
nedefinovatelně zvyšující elektrický odpor snímače teploty. Tuto poruchu lze odhalit kontrolním měřením. Měřící proud nulový vada elektroniky, zdroj není zapojen nebo vadný
Poruchy snímačů aktivním výstupem V:
1. Týká všech kovových čidel.
2. Termoelektrický obvod byl buď kdekoli přerušen
nebo zkratován. Snížení termoelektrického napětí stářím nebo dlouhodobým vystavením horní
hraniční teplotě.sensit. Snížený elektrický odpor bývá většině případů způsoben vniknutím vysrážením
vlhkosti prostoru napojení kabelu vývody čipu, čímž vznikne paralelní odpor. způsobeno mechanickým
narušením termoelektrického spoje dvou větví termočlánku
3.
Proces migrace atomů kovu exponenciálně roste dojde úplnému přerušení
čidla tím celého obvodu
