ČAS - Věstník 2021-4

| Kategorie: Firemní tiskovina  | Tento dokument chci!

Vydal: Úřad pro technickou normalizaci, metrologii a státní zkušebnictví

Strana 37 z 87

Jak získat tento dokument?






Poznámky redaktora
veřejnému projednání dále uvedené návrhy norem Evropského výboru pro normalizaci elektrotechnice (CENELEC).: 221 802 111 Uvedené návrhy jsou dostupné Zákaznickém centru České agentury pro standardizaci, státní příspěvkové organizace, Na Žertvách 132/24, 180 Praha 8. Označení Název angličtině Původce Lhůty prEN IEC 62819:2021 Live working Eye, face and head protectors against the effects electric arc Test methods and performance requirements CLC/TC 2021-05-21 prEN IEC 60079-17:2021 Explosive atmospheres Part 17: Electrical installations inspection and maintenance CLC/TC 2021-04-30 prEN IEC 62788-7-3:2021 Measurement procedures for materials used in photovoltaic modules Part 7-3: Environmental exposures Accelerated abrasion tests of module external surfaces CLC/TC 2021-05-21 prEN IEC 62271-203:2021 High-voltage switchgear and controlgear - Part 203: Gas-insulated metal-enclosed switchgear for rated voltages above CLC/TC 17AC 2021-05-07 prEN IEC 60335-2-95:2021 Household and similar electrical appliances - Safety Part 2-95: Particular requirements for drives for vertically moving garage doors for residential use CLC/TC 2021-05-14 prEN IEC 60335-2-95:2021/prAA:2021 Household and similar electrical appliances - Safety Part 2-95: Particular requirements for drives for vertically moving garage doors for residential use CLC/TC 2021-05-14 prEN IEC 63275-2:2021 Semiconductor devices Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors Part Test method for bipolar degradation due body diode operation CLC/SR 2021-05-21 prEN IEC 63275-1:2021 Semiconductor devices Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors Part Test method for bias temperature instability CLC/SR 2021-05-21 prEN IEC 63284:2021 Semiconductor devices Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors CLC/SR 2021-05-21 .cz/ NÁVRHY EVROPSKÝCH NOREM PŘEDLOŽENÉ VEŘEJNÉMU PROJEDNÁNÍ CENELEC v období 2021-02-01 2021-02-28 Údaje jsou převzaty databáze CENELEC. Většinu těchto návrhů možné číst připomínkovat adrese http://drafts. K těmto návrhům považovaným návrhy ČSN může každý, nejpozději týdnů před příslušnou lhůtou uvedenou níže u jednotlivých položek, předložit připomínky adrese Česká agentura pro standardizaci, státní příspěvková organizace, Biskupský dvůr 1148/5, 110 Praha 1 E-mail: normalizace@agentura-cas.cz Tel.unmz.37 Věstník 4/2021 OZNÁMENÍ 38/21 Úřadu pro technickou normalizaci, metrologii státní zkušebnictví o veřejném projednání návrhů evropských norem CENELEC Úřad pro technickou normalizaci, metrologii státní zkušebnictví předkládá podle zákona 22/1997 Sb