cz/
NÁVRHY EVROPSKÝCH NOREM PŘEDLOŽENÉ VEŘEJNÉMU PROJEDNÁNÍ
CENELEC
v období 2021-02-01 2021-02-28
Údaje jsou převzaty databáze CENELEC.cz
Tel.unmz.
Většinu těchto návrhů možné číst připomínkovat adrese http://drafts.37
Věstník 4/2021
OZNÁMENÍ 38/21
Úřadu pro technickou normalizaci, metrologii státní zkušebnictví
o veřejném projednání návrhů evropských norem CENELEC
Úřad pro technickou normalizaci, metrologii státní zkušebnictví předkládá podle zákona 22/1997 Sb. veřejnému projednání
dále uvedené návrhy norem Evropského výboru pro normalizaci elektrotechnice (CENELEC).
Označení Název angličtině Původce Lhůty
prEN IEC 62819:2021
Live working Eye, face and head protectors
against the effects electric arc Test methods
and performance requirements CLC/TC 2021-05-21
prEN IEC 60079-17:2021
Explosive atmospheres Part 17: Electrical
installations inspection and maintenance CLC/TC 2021-04-30
prEN IEC 62788-7-3:2021
Measurement procedures for materials used in
photovoltaic modules Part 7-3: Environmental
exposures Accelerated abrasion tests
of module external surfaces CLC/TC 2021-05-21
prEN IEC 62271-203:2021
High-voltage switchgear and controlgear -
Part 203: Gas-insulated metal-enclosed
switchgear for rated voltages above CLC/TC 17AC 2021-05-07
prEN IEC 60335-2-95:2021
Household and similar electrical appliances -
Safety Part 2-95: Particular requirements for
drives for vertically moving garage doors for
residential use CLC/TC 2021-05-14
prEN IEC 60335-2-95:2021/prAA:2021
Household and similar electrical appliances -
Safety Part 2-95: Particular requirements for
drives for vertically moving garage doors for
residential use CLC/TC 2021-05-14
prEN IEC 63275-2:2021
Semiconductor devices Reliability test
method for silicon carbide discrete metal-oxide
semiconductor field effect transistors Part Test
method for bipolar degradation due body diode
operation CLC/SR 2021-05-21
prEN IEC 63275-1:2021
Semiconductor devices Reliability test
method for silicon carbide discrete metal-oxide
semiconductor field effect transistors Part Test
method for bias temperature instability CLC/SR 2021-05-21
prEN IEC 63284:2021
Semiconductor devices Reliability test method
by inductive load switching for gallium nitride
transistors CLC/SR 2021-05-21
.: 221 802 111
Uvedené návrhy jsou dostupné Zákaznickém centru České agentury pro standardizaci,
státní příspěvkové organizace,
Na Žertvách 132/24, 180 Praha 8.
K těmto návrhům považovaným návrhy ČSN může každý, nejpozději týdnů před příslušnou lhůtou uvedenou níže
u jednotlivých položek, předložit připomínky adrese
Česká agentura pro standardizaci,
státní příspěvková organizace,
Biskupský dvůr 1148/5, 110 Praha 1
E-mail: normalizace@agentura-cas
