Uzemnění a jeho měření

| Kategorie: Kniha  | Tento dokument chci!

Kniha se zabývá určením optim ální uzemňovací soustavy, výpočtem , volbou vhodných zemničů a použitím moderní technologie ukládání zemničů. Dále jsou zde uvedeny moderní metody měření měrných odporů půdy, měření zemních odporů zemničů a celých uzemňovacích soustav. Kniha je určena jako praktická příručka pro montéry, elektroúdržbáře a projektanty.

Vydal: Státní nakladatelství technické literatury Autor: Václav Novotný

Strana 151 z 235

Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.

Jak získat tento dokument?






Poznámky redaktora
obr. 74, že ěrný odpor půdy přibývající hloubkou zvětšuje. 76. Následuje vlastní vyhodnocení funkce f(A). 77. Charakteristický průběh křivek při dvouvrstvovém (nehomogenním) pod­ loží q2 a) změřená křivka; vrstvový diagram 154 . 75. P i Nejjednodušší tvar zvrstveného podloží představuje případ se' dvěma vrstvam pro (obr. 79). 75). P u Jestliže podloží homogenní, případ, který přírodě vyskytuje jen velmi zřídka, nebude přibývající hloubkou ěnit (obr. Pokud překrytí nedo­ sáhne, nutné provést interpolaci mezi dvěma sousedním křivkami. 77). Přitom nutné rozlišovat případy s jednou, dvěma, třem nebo více vrstvam i.křivky poskytuje první informace podloží. Charakteristický průběh křivek při jednovrstvové (homogenní) zemině: q konst a) změřená křivka; vrstvový diagram -fis a) Obr. Charakteristický průběh křivek při dvouvrstvovém (nehomogenním) pod­ loží sgi q2 a) změřená křivka; vrstvový diagram Obr. _ fs 1 ] 1 o) b) Obr. Transparent form átu zakres­ lenou změřenou křivkou přiloží na křivky pro dvouvrstvé podloží, rovněž form átu tak, aby změ­ řená křivka pokud možno kryla s některou předem vypočtenou křiv­ kou. 76) nebo (obr. Obecně dosáhne tohoto překrytí posunutím transparentu tak, aby koordináty zůstaly rov­ noběžné. Jestliže z pozorování změřené křivky usuzujeme případ dvěma vrstvam i, porovnáme průběh této křivky analyticky získanými křivkam pro dvě vrstvy podloží pro konfiguraci zvolenou při měření (obr. Pozná např