PRIEMYSELNÉ MERANIE prednasky

| Kategorie: Skripta  | Tento dokument chci!

Predkladaný vysokoškolský učebný text má elektronickú formu a obsahuje všeobecné poznatky súvisiace s teoretickou a praktickou výučbou v rámci predmetu „Informatické a priemyselné meranie“. Tento predmet je súčasťou študijných programov bakalárskeho štúdia na Fakulte elektrotechniky a informatiky Technickej univerzity v Košiciach. Jedná sa o akreditovaný študijný program: „Aplikovaná informatika“ v študijnom odbore „Aplikovaná informatika“.. Jeho absolvovaním študenti získajú . 6 kreditov.

Strana 31 z 79

Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.

Více info o tomto dokumentu zde!

Jak získat tento dokument?

Poznámky redaktora

Určenie výsledku merania: Určenie výsledku merania vykonávame len pre ten najjednoduchší prípad t. Nakoľko platí: ∞→ = ' ' lim n aa a ∞→ = ' lim n sσ so stúpajúcim počtom meraní budú výsledky náhodného výberu približovať hodnotám počítaným podľa vzťahov platiacich pre základný súbor.9) ( najpravdepodobnejšia) -krajná chyba σX -smerodajná odchýlka n XX n i ai X ∑= − = 1 2 )( σ (3.5. Potom platí: .8) Ďalšie súvisiace vzťahy sú: -aritmeticky priemerná hodnota ∑= = n i ia X n X 1 1 (3.Priemyselné meranie M - - obidva súbory náhodných javov platia mierne odlišné spôsoby spracovania, ktoré následne uvedieme.8) platí pravdepodobnosťou (istotou) 99,7% pri všeobecných meraniach považuje plne vyhovujúcu istotu. A) Základný súbor Výsledok merania tvar: χ±= (3. kedy rušivé vplyvy vzájomné nezávislé .10) Ďalšie použité označenia veličín: i-tá nameraná hodnota, celkový počet nameraných hodnôt. Vlastné meranie jeho vyhodnotenie musí vykonávať veľmi kvalifikovaná skúsená obsluha oblasti metrológie.j. B) Náhodný výber Stanovenie výsledku merania plnom rozsahu uvedené kapitole 2. Vzťah (3.2.2 bod 2. 3. Meranie kvalitatívnej triede AA Podmienky merania: Podmienky merania potrebné dodržiavať ako v kvalitatívnej triede merania Naviac musia byť dispozícii certifikačné listiny všetkých použitých meracích prístrojov zariadení

---

---