PRIEMYSELNÉ MERANIE prednasky

| Kategorie: Skripta  | Tento dokument chci!

Predkladaný vysokoškolský učebný text má elektronickú formu a obsahuje všeobecné poznatky súvisiace s teoretickou a praktickou výučbou v rámci predmetu „Informatické a priemyselné meranie“. Tento predmet je súčasťou študijných programov bakalárskeho štúdia na Fakulte elektrotechniky a informatiky Technickej univerzity v Košiciach. Jedná sa o akreditovaný študijný program: „Aplikovaná informatika“ v študijnom odbore „Aplikovaná informatika“.. Jeho absolvovaním študenti získajú . 6 kreditov.

Strana 31 z 79

Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.

Více info o tomto dokumentu zde!

Jak získat tento dokument?

Poznámky redaktora

10) Ďalšie použité označenia veličín: i-tá nameraná hodnota, celkový počet nameraných hodnôt. kedy rušivé vplyvy vzájomné nezávislé .8) Ďalšie súvisiace vzťahy sú: -aritmeticky priemerná hodnota ∑= = n i ia X n X 1 1 (3.2 bod 2. Potom platí: .Priemyselné meranie M - - obidva súbory náhodných javov platia mierne odlišné spôsoby spracovania, ktoré následne uvedieme.5.2. A) Základný súbor Výsledok merania tvar: χ±= (3. Určenie výsledku merania: Určenie výsledku merania vykonávame len pre ten najjednoduchší prípad t.9) ( najpravdepodobnejšia) -krajná chyba σX -smerodajná odchýlka n XX n i ai X ∑= − = 1 2 )( σ (3. Vlastné meranie jeho vyhodnotenie musí vykonávať veľmi kvalifikovaná skúsená obsluha oblasti metrológie.8) platí pravdepodobnosťou (istotou) 99,7% pri všeobecných meraniach považuje plne vyhovujúcu istotu. Nakoľko platí: ∞→ = ' ' lim n aa a ∞→ = ' lim n sσ so stúpajúcim počtom meraní budú výsledky náhodného výberu približovať hodnotám počítaným podľa vzťahov platiacich pre základný súbor. B) Náhodný výber Stanovenie výsledku merania plnom rozsahu uvedené kapitole 2. 3. Meranie kvalitatívnej triede AA Podmienky merania: Podmienky merania potrebné dodržiavať ako v kvalitatívnej triede merania Naviac musia byť dispozícii certifikačné listiny všetkých použitých meracích prístrojov zariadení.j. Vzťah (3

---

---