Predkladaný vysokoškolský učebný text má elektronickú formu a obsahuje všeobecné
poznatky súvisiace s teoretickou a praktickou výučbou v rámci predmetu „Informatické
a priemyselné meranie“. Tento predmet je súčasťou študijných programov bakalárskeho
štúdia na Fakulte elektrotechniky a informatiky Technickej univerzity v Košiciach. Jedná sa
o akreditovaný študijný program: „Aplikovaná informatika“ v študijnom odbore „Aplikovaná
informatika“.. Jeho absolvovaním študenti získajú . 6 kreditov.
Autor: Miroslav Mojžiš
Strana 30 z 79
Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.
počet nameraných hodnôt (prvkov) podstatne menší potom
sa označuje ako náhodný výber, ako uvedené úvode podkapitol kapitoly 2.1.2.4 Meranie kvalitatívnej triede A
Podmienky merania:
Pri tomto meraní potrebné dodržať všetky podmienky uvedené pri meraní v
kvalitatívnej triede naviac musí byť možnosť meranie vykonať viacnásobne, teda opakovane s
jedným alebo súčasne viacerými meracími prístrojmi.
X
Xmx
Xmx
∆
=δ (3.3)
kde označuje triedu presnosti prístroja jeho rozsah.6)
Pri konečnom vyčísľovaní hodnoty samozrejme potrebné zvážiť hodnotu
vlastnej spotreby meracích prístrojov, táto porovnateľná vyčíslenou chybou mxX∆ je
potom potrebné vykonať príslušnú korekciu.7)
3.1) hodnoty maximálnych
relatívnych chýb merania Amxδ Bmxδ vypočítame podľa vzťahu (6. Pre
.100mx
x
X
X
δ ∆
= (3. Teda budeme vychádzať vzťahu
(3.3) máme
.5)
prvá časť pravej strany rovnice nazýva chyba údaja druhá časť chyba rozsahu.Priemyselné meranie M
- -
100.
C) Pri použití číslicového meracieho prístroja, maximálnu chybu merania určíme zo
vzťahu
rmx XaXaX +=∆ (3.
Samotnú relatívnu presnosť merania udávame nepriamo hodnotou maximálnej
chyby percentách informatívnej hodnoty meranej veličiny.
Konštanty a1, uvedie výrobca prístroja
Výsledok merania potom udáva forme
mxv XXX ∆±= (3.
Určenie výsledku merania:
Súbor nameraných hodnôt skladajúci asi 1000 prvkov predstavuje štatistickej
matematike tzv.
B) Pri použití viacerých analógových meracích prístrojov (nepriama metóda) máme
),( BAfX B
B
f
A
A
f
X BmxAmxmx δδ
∂
∂
+
∂
∂
=∆ (3. základný súbor.4)
kde hodnoty veličín A,B určíme podľa vzťahu (6.3) ako celkovú relatívnu chybu
merania veličiny X
