Predkladaný vysokoškolský učebný text má elektronickú formu a obsahuje všeobecné
poznatky súvisiace s teoretickou a praktickou výučbou v rámci predmetu „Informatické
a priemyselné meranie“. Tento predmet je súčasťou študijných programov bakalárskeho
štúdia na Fakulte elektrotechniky a informatiky Technickej univerzity v Košiciach. Jedná sa
o akreditovaný študijný program: „Aplikovaná informatika“ v študijnom odbore „Aplikovaná
informatika“.. Jeho absolvovaním študenti získajú . 6 kreditov.
Autor: Miroslav Mojžiš
Strana 21 z 79
Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.
)
8. 2.Priemyselné meranie M
- -
2.
5
1. Chyby
metódy, chyby experimentátora, chyby meracích prístrojov chyby meracom obvode. .
2. pôvod vonkajších rušivých vplyvoch.
4) Rušivé vplyvy vnútorného pôvodu (teplota, elektromagnetické polia).2. 2.
5) Vonkajšie rušivé vplyvy.
Jednotlivé šípky schéme znázorňujú prenos (pôsobenie) nasledovných veličín :
1.
(Pri každej chybe nasledovnom popise bude skratkou forme Vx, kde poradové
číslo, uvedený pôvod chyby.
Obr.
Podľa miesta príčiny vzniku chýb rozoznávame štyri druhy chýb.
6) Rušenie prostredníctvom nestability elektrickej siete.1
Vonkajšie
rušenie
Merací 4. Meraná veličina.
prístroj
prístroj
Obsluha
Meraný
objekt
Napájacia
elektrická
sieť
. Miesta príčiny vzniku chýb
Znalosť miest príčin vzniku chýb, následne ich rozlíšenie určenie umožňuje
zvoliť také podmienky merania, alebo realizovať také opatrenia, ktoré presnosť merania zvýšia.
5. Situáciu
znázorňuje bloková schéma obr. Napr.
3) Spätné pôsobenie meracieho prístroja objekt (vlastná spotreba).
7) Spätné pôsobenie obsluhy. 2. Meraná informácia (veľkosť výchylky).1. 7.
3.1.
.
8) Rušivé veličiny pôsobiace merací obvod (vodiče).
6
