Predkladaný vysokoškolský učebný text má elektronickú formu a obsahuje všeobecné
poznatky súvisiace s teoretickou a praktickou výučbou v rámci predmetu „Informatické
a priemyselné meranie“. Tento predmet je súčasťou študijných programov bakalárskeho
štúdia na Fakulte elektrotechniky a informatiky Technickej univerzity v Košiciach. Jedná sa
o akreditovaný študijný program: „Aplikovaná informatika“ v študijnom odbore „Aplikovaná
informatika“.. Jeho absolvovaním študenti získajú . 6 kreditov.
Autor: Miroslav Mojžiš
Strana 21 z 79
Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.
pôvod vonkajších rušivých vplyvoch. 2.
. 2. 7.
6. Meraná informácia (veľkosť výchylky).
Obr. 2.
Jednotlivé šípky schéme znázorňujú prenos (pôsobenie) nasledovných veličín :
1. Situáciu
znázorňuje bloková schéma obr.
5) Vonkajšie rušivé vplyvy. Meraná veličina. Chyby
metódy, chyby experimentátora, chyby meracích prístrojov chyby meracom obvode. .
5
1.
8) Rušivé veličiny pôsobiace merací obvod (vodiče). )
8. Napr.1.2. Miesta príčiny vzniku chýb
Znalosť miest príčin vzniku chýb, následne ich rozlíšenie určenie umožňuje
zvoliť také podmienky merania, alebo realizovať také opatrenia, ktoré presnosť merania zvýšia.
6) Rušenie prostredníctvom nestability elektrickej siete.
5.
3) Spätné pôsobenie meracieho prístroja objekt (vlastná spotreba).
3.
Podľa miesta príčiny vzniku chýb rozoznávame štyri druhy chýb.1
Vonkajšie
rušenie
Merací 4.
2.
prístroj
prístroj
Obsluha
Meraný
objekt
Napájacia
elektrická
sieť
.1.
4) Rušivé vplyvy vnútorného pôvodu (teplota, elektromagnetické polia).
7) Spätné pôsobenie obsluhy.Priemyselné meranie M
- -
2.
(Pri každej chybe nasledovnom popise bude skratkou forme Vx, kde poradové
číslo, uvedený pôvod chyby
