Predkladaný vysokoškolský učebný text má elektronickú formu a obsahuje všeobecné
poznatky súvisiace s teoretickou a praktickou výučbou v rámci predmetu „Informatické
a priemyselné meranie“. Tento predmet je súčasťou študijných programov bakalárskeho
štúdia na Fakulte elektrotechniky a informatiky Technickej univerzity v Košiciach. Jedná sa
o akreditovaný študijný program: „Aplikovaná informatika“ v študijnom odbore „Aplikovaná
informatika“.. Jeho absolvovaním študenti získajú . 6 kreditov.
Autor: Miroslav Mojžiš
Strana 21 z 79
Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.
5
1. 2.
Jednotlivé šípky schéme znázorňujú prenos (pôsobenie) nasledovných veličín :
1. Meraná informácia (veľkosť výchylky). Napr.1.
.
5.
4) Rušivé vplyvy vnútorného pôvodu (teplota, elektromagnetické polia). pôvod vonkajších rušivých vplyvoch.
3. 2. Chyby
metódy, chyby experimentátora, chyby meracích prístrojov chyby meracom obvode. .1
Vonkajšie
rušenie
Merací 4. 2.
6) Rušenie prostredníctvom nestability elektrickej siete.2. Miesta príčiny vzniku chýb
Znalosť miest príčin vzniku chýb, následne ich rozlíšenie určenie umožňuje
zvoliť také podmienky merania, alebo realizovať také opatrenia, ktoré presnosť merania zvýšia.
7) Spätné pôsobenie obsluhy.
6.
prístroj
prístroj
Obsluha
Meraný
objekt
Napájacia
elektrická
sieť
.
(Pri každej chybe nasledovnom popise bude skratkou forme Vx, kde poradové
číslo, uvedený pôvod chyby.
Podľa miesta príčiny vzniku chýb rozoznávame štyri druhy chýb.Priemyselné meranie M
- -
2.
5) Vonkajšie rušivé vplyvy.1. 7.
3) Spätné pôsobenie meracieho prístroja objekt (vlastná spotreba). Situáciu
znázorňuje bloková schéma obr.
Obr. Meraná veličina.
2. )
8.
8) Rušivé veličiny pôsobiace merací obvod (vodiče)
