Predkladaný vysokoškolský učebný text má elektronickú formu a obsahuje všeobecné
poznatky súvisiace s teoretickou a praktickou výučbou v rámci predmetu „Informatické
a priemyselné meranie“. Tento predmet je súčasťou študijných programov bakalárskeho
štúdia na Fakulte elektrotechniky a informatiky Technickej univerzity v Košiciach. Jedná sa
o akreditovaný študijný program: „Aplikovaná informatika“ v študijnom odbore „Aplikovaná
informatika“.. Jeho absolvovaním študenti získajú . 6 kreditov.
Autor: Miroslav Mojžiš
Strana 21 z 79
Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.
Obr.
5. Miesta príčiny vzniku chýb
Znalosť miest príčin vzniku chýb, následne ich rozlíšenie určenie umožňuje
zvoliť také podmienky merania, alebo realizovať také opatrenia, ktoré presnosť merania zvýšia.
Podľa miesta príčiny vzniku chýb rozoznávame štyri druhy chýb.
3. Napr.
4) Rušivé vplyvy vnútorného pôvodu (teplota, elektromagnetické polia).1. 2.
(Pri každej chybe nasledovnom popise bude skratkou forme Vx, kde poradové
číslo, uvedený pôvod chyby. pôvod vonkajších rušivých vplyvoch.
8) Rušivé veličiny pôsobiace merací obvod (vodiče). 7. 2. Situáciu
znázorňuje bloková schéma obr.1. .
6) Rušenie prostredníctvom nestability elektrickej siete.
6. Meraná veličina.
Jednotlivé šípky schéme znázorňujú prenos (pôsobenie) nasledovných veličín :
1.2.
3) Spätné pôsobenie meracieho prístroja objekt (vlastná spotreba).
7) Spätné pôsobenie obsluhy.Priemyselné meranie M
- -
2.1
Vonkajšie
rušenie
Merací 4. Chyby
metódy, chyby experimentátora, chyby meracích prístrojov chyby meracom obvode.
prístroj
prístroj
Obsluha
Meraný
objekt
Napájacia
elektrická
sieť
. Meraná informácia (veľkosť výchylky). )
8.
5
1.
5) Vonkajšie rušivé vplyvy. 2.
.
2
