Predkladaný vysokoškolský učebný text má elektronickú formu a obsahuje všeobecné
poznatky súvisiace s teoretickou a praktickou výučbou v rámci predmetu „Informatické
a priemyselné meranie“. Tento predmet je súčasťou študijných programov bakalárskeho
štúdia na Fakulte elektrotechniky a informatiky Technickej univerzity v Košiciach. Jedná sa
o akreditovaný študijný program: „Aplikovaná informatika“ v študijnom odbore „Aplikovaná
informatika“.. Jeho absolvovaním študenti získajú . 6 kreditov.
Autor: Miroslav Mojžiš
Strana 22 z 79
Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.
(V7) tejto skupiny patrí široký sortiment úvahy
prichádzajúcich omylov nedôsledností strany experimentátora, ktoré môžu rozhodujúcim
spôsobom ovplyvniť výsledok, prípadne úplne znehodnotiť.Priemyselné meranie M
- -
1.
3. (V3) Vznikajú pôsobením meracieho obvodu resp. Chyby metódy eliminujeme použitím meracích prístrojov najmenšou
spotrebou, rozborom metódy merania príslušnou úpravou výsledku vzhľadom vlastnú spotrebu
.j.
Doplnkové chyby spôsobené vonkajšími rušivými vplyvmi nad referenčnú úroveň. Druhú podskupinu tvorí nesprávne odčítanie
(nedôsledné, zaokrúhľovanie, odčítanie výchylky stupnici bez zrkadla (paralaxa), nesprávna
interpolácia stupnici) napokon patrí sem nesprávny výpočet meranej hodnoty odčítanej
výchylky. Chyby experimentátora.3 Eliminácia chýb merania
Spôsob eliminácie chýb merania bude závisieť ich pôvodu, budeme preto
postupovať podľa zoskupenia chýb predchádzajúcej kapitoly. Chyby meracieho prístroja. Patrí sem predovšetkým pôsobenie magnetického
a elektrického poľa, teplota, otrasy, nečistoty. Patrí sem predovšetkým vplyv vlastnej spotreby meracích prístrojov.
2. Chyby metódy. Zvláštnu pozornosť obvodoch malým odporom si
zaslúžia prechodové odpory rozoberateľných spojoch (svorky, prepínače), pretože tieto môžu
rozhodujúcim spôsobom ovplyvniť veličiny obvode nefunkčnosť príslušného zariadenia. rušivých vplyvov, t.
Pri presnejšom posudzovaní mohli sme zaradiť tejto skupiny pôsobenie meracích prístrojov aj
prostredníctvom ich magnetických elektrických polí meraný objekt. (V4,5,6) chyby vznikajúce meracom
prístroji.1. Chyby meracom obvode.
4.
1. iných priamo nesledovaných, ale meranú veličinu
ovplyvňujúcich fyzikálnych veličín.
Hodnota odporu môže meniť rozmedzí 10-1
÷ 10-4
a závisí kvalite styčnej plochy
(rovinatosť, hladkosť), prítlačnej sile, oxidačnej vrstve prípadných nečistotách. meracích
prístrojov objekt merania.Tieto chyby rozdeľujeme dve skupiny Základné chyby tie, ktoré merací prístroj
vykazuje pri
meraní ustálených hodnôt referenčných (výrobcom udaných) vonkajších podmienok. (V8) tie, ktoré vznikajú meracom obvode
následkom tzv.
Pôvod základných chýb nepresnosti výroby
- nepresnej kalibrácií
- pôsobení vnútorných rušivých magnetických elektrických polí
- oteplení spôsobenom vlastnou spotrebou prístroja
- starnutí materiálu súčiastok (permanentné magnety, odporníky,
pružiny
- opotrebovaní, alebo preťažení prístroja
- prívodných vodičoch
U analógových meracích prístrojov (klasických) pôvod chýb ešte je:
-v pôsobení vnútorných rušivých mechanických síl (trenie, lepenie)
U číslicových meracích prístrojov pôvod chýb ešte:
- nespojitosti analógovo-číslicového prevodu. Patrí sem nesprávna voľba meracej
metódy, nesprávne zapojenie meracích prístrojov alebo typu meracích prístrojov, použitie
nefunkčného meracieho prístroja (neoverený, bez nastavenia nuly), nesprávne použitie meracích
prístrojov (napr. nedodržaná poloha), atď.
2
