PRIEMYSELNÉ MERANIE prednasky

| Kategorie: Skripta  | Tento dokument chci!

Predkladaný vysokoškolský učebný text má elektronickú formu a obsahuje všeobecné poznatky súvisiace s teoretickou a praktickou výučbou v rámci predmetu „Informatické a priemyselné meranie“. Tento predmet je súčasťou študijných programov bakalárskeho štúdia na Fakulte elektrotechniky a informatiky Technickej univerzity v Košiciach. Jedná sa o akreditovaný študijný program: „Aplikovaná informatika“ v študijnom odbore „Aplikovaná informatika“.. Jeho absolvovaním študenti získajú . 6 kreditov.

Autor: Miroslav Mojžiš

Strana 22 z 79

Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.

Jak získat tento dokument?






Poznámky redaktora
Priemyselné meranie M - - 1.1.Tieto chyby rozdeľujeme dve skupiny Základné chyby tie, ktoré merací prístroj vykazuje pri meraní ustálených hodnôt referenčných (výrobcom udaných) vonkajších podmienok. 3.3 Eliminácia chýb merania Spôsob eliminácie chýb merania bude závisieť ich pôvodu, budeme preto postupovať podľa zoskupenia chýb predchádzajúcej kapitoly. Hodnota odporu môže meniť rozmedzí 10-1 ÷ 10-4 a závisí kvalite styčnej plochy (rovinatosť, hladkosť), prítlačnej sile, oxidačnej vrstve prípadných nečistotách. Pôvod základných chýb nepresnosti výroby - nepresnej kalibrácií - pôsobení vnútorných rušivých magnetických elektrických polí - oteplení spôsobenom vlastnou spotrebou prístroja - starnutí materiálu súčiastok (permanentné magnety, odporníky, pružiny - opotrebovaní, alebo preťažení prístroja - prívodných vodičoch U analógových meracích prístrojov (klasických) pôvod chýb ešte je: -v pôsobení vnútorných rušivých mechanických síl (trenie, lepenie) U číslicových meracích prístrojov pôvod chýb ešte: - nespojitosti analógovo-číslicového prevodu. iných priamo nesledovaných, ale meranú veličinu ovplyvňujúcich fyzikálnych veličín. 4. Chyby metódy eliminujeme použitím meracích prístrojov najmenšou spotrebou, rozborom metódy merania príslušnou úpravou výsledku vzhľadom vlastnú spotrebu . Patrí sem predovšetkým vplyv vlastnej spotreby meracích prístrojov. nedodržaná poloha), atď. Patrí sem nesprávna voľba meracej metódy, nesprávne zapojenie meracích prístrojov alebo typu meracích prístrojov, použitie nefunkčného meracieho prístroja (neoverený, bez nastavenia nuly), nesprávne použitie meracích prístrojov (napr. (V7) tejto skupiny patrí široký sortiment úvahy prichádzajúcich omylov nedôsledností strany experimentátora, ktoré môžu rozhodujúcim spôsobom ovplyvniť výsledok, prípadne úplne znehodnotiť. (V4,5,6) chyby vznikajúce meracom prístroji. Zvláštnu pozornosť obvodoch malým odporom si zaslúžia prechodové odpory rozoberateľných spojoch (svorky, prepínače), pretože tieto môžu rozhodujúcim spôsobom ovplyvniť veličiny obvode nefunkčnosť príslušného zariadenia. Druhú podskupinu tvorí nesprávne odčítanie (nedôsledné, zaokrúhľovanie, odčítanie výchylky stupnici bez zrkadla (paralaxa), nesprávna interpolácia stupnici) napokon patrí sem nesprávny výpočet meranej hodnoty odčítanej výchylky. Chyby metódy. Patrí sem predovšetkým pôsobenie magnetického a elektrického poľa, teplota, otrasy, nečistoty. Doplnkové chyby spôsobené vonkajšími rušivými vplyvmi nad referenčnú úroveň. Chyby experimentátora.j. Pri presnejšom posudzovaní mohli sme zaradiť tejto skupiny pôsobenie meracích prístrojov aj prostredníctvom ich magnetických elektrických polí meraný objekt. (V3) Vznikajú pôsobením meracieho obvodu resp. (V8) tie, ktoré vznikajú meracom obvode následkom tzv. 2. meracích prístrojov objekt merania. 2. Chyby meracieho prístroja. Chyby meracom obvode. rušivých vplyvov, t. 1