Predkladaný vysokoškolský učebný text má elektronickú formu a obsahuje všeobecné
poznatky súvisiace s teoretickou a praktickou výučbou v rámci predmetu „Informatické
a priemyselné meranie“. Tento predmet je súčasťou študijných programov bakalárskeho
štúdia na Fakulte elektrotechniky a informatiky Technickej univerzity v Košiciach. Jedná sa
o akreditovaný študijný program: „Aplikovaná informatika“ v študijnom odbore „Aplikovaná
informatika“.. Jeho absolvovaním študenti získajú . 6 kreditov.
Autor: Miroslav Mojžiš
Strana 22 z 79
Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.
rušivých vplyvov, t.
1.
Pri presnejšom posudzovaní mohli sme zaradiť tejto skupiny pôsobenie meracích prístrojov aj
prostredníctvom ich magnetických elektrických polí meraný objekt. (V7) tejto skupiny patrí široký sortiment úvahy
prichádzajúcich omylov nedôsledností strany experimentátora, ktoré môžu rozhodujúcim
spôsobom ovplyvniť výsledok, prípadne úplne znehodnotiť. nedodržaná poloha), atď. Zvláštnu pozornosť obvodoch malým odporom si
zaslúžia prechodové odpory rozoberateľných spojoch (svorky, prepínače), pretože tieto môžu
rozhodujúcim spôsobom ovplyvniť veličiny obvode nefunkčnosť príslušného zariadenia.
2.Priemyselné meranie M
- -
1.
Hodnota odporu môže meniť rozmedzí 10-1
÷ 10-4
a závisí kvalite styčnej plochy
(rovinatosť, hladkosť), prítlačnej sile, oxidačnej vrstve prípadných nečistotách. meracích
prístrojov objekt merania. iných priamo nesledovaných, ale meranú veličinu
ovplyvňujúcich fyzikálnych veličín. Druhú podskupinu tvorí nesprávne odčítanie
(nedôsledné, zaokrúhľovanie, odčítanie výchylky stupnici bez zrkadla (paralaxa), nesprávna
interpolácia stupnici) napokon patrí sem nesprávny výpočet meranej hodnoty odčítanej
výchylky. (V3) Vznikajú pôsobením meracieho obvodu resp. Patrí sem predovšetkým pôsobenie magnetického
a elektrického poľa, teplota, otrasy, nečistoty. Patrí sem predovšetkým vplyv vlastnej spotreby meracích prístrojov.
Doplnkové chyby spôsobené vonkajšími rušivými vplyvmi nad referenčnú úroveň. Chyby meracieho prístroja.
2.j. Chyby experimentátora.
4.
Pôvod základných chýb nepresnosti výroby
- nepresnej kalibrácií
- pôsobení vnútorných rušivých magnetických elektrických polí
- oteplení spôsobenom vlastnou spotrebou prístroja
- starnutí materiálu súčiastok (permanentné magnety, odporníky,
pružiny
- opotrebovaní, alebo preťažení prístroja
- prívodných vodičoch
U analógových meracích prístrojov (klasických) pôvod chýb ešte je:
-v pôsobení vnútorných rušivých mechanických síl (trenie, lepenie)
U číslicových meracích prístrojov pôvod chýb ešte:
- nespojitosti analógovo-číslicového prevodu.1.3 Eliminácia chýb merania
Spôsob eliminácie chýb merania bude závisieť ich pôvodu, budeme preto
postupovať podľa zoskupenia chýb predchádzajúcej kapitoly.
3. Chyby metódy. Patrí sem nesprávna voľba meracej
metódy, nesprávne zapojenie meracích prístrojov alebo typu meracích prístrojov, použitie
nefunkčného meracieho prístroja (neoverený, bez nastavenia nuly), nesprávne použitie meracích
prístrojov (napr. (V4,5,6) chyby vznikajúce meracom
prístroji. Chyby metódy eliminujeme použitím meracích prístrojov najmenšou
spotrebou, rozborom metódy merania príslušnou úpravou výsledku vzhľadom vlastnú spotrebu
.Tieto chyby rozdeľujeme dve skupiny Základné chyby tie, ktoré merací prístroj
vykazuje pri
meraní ustálených hodnôt referenčných (výrobcom udaných) vonkajších podmienok. (V8) tie, ktoré vznikajú meracom obvode
následkom tzv. Chyby meracom obvode
