Predkladaný vysokoškolský učebný text má elektronickú formu a obsahuje všeobecné
poznatky súvisiace s teoretickou a praktickou výučbou v rámci predmetu „Informatické
a priemyselné meranie“. Tento predmet je súčasťou študijných programov bakalárskeho
štúdia na Fakulte elektrotechniky a informatiky Technickej univerzity v Košiciach. Jedná sa
o akreditovaný študijný program: „Aplikovaná informatika“ v študijnom odbore „Aplikovaná
informatika“.. Jeho absolvovaním študenti získajú . 6 kreditov.
Autor: Miroslav Mojžiš
Strana 22 z 79
Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.
(V3) Vznikajú pôsobením meracieho obvodu resp. rušivých vplyvov, t. Chyby experimentátora. (V4,5,6) chyby vznikajúce meracom
prístroji.
Doplnkové chyby spôsobené vonkajšími rušivými vplyvmi nad referenčnú úroveň.
Hodnota odporu môže meniť rozmedzí 10-1
÷ 10-4
a závisí kvalite styčnej plochy
(rovinatosť, hladkosť), prítlačnej sile, oxidačnej vrstve prípadných nečistotách.
Pri presnejšom posudzovaní mohli sme zaradiť tejto skupiny pôsobenie meracích prístrojov aj
prostredníctvom ich magnetických elektrických polí meraný objekt.Tieto chyby rozdeľujeme dve skupiny Základné chyby tie, ktoré merací prístroj
vykazuje pri
meraní ustálených hodnôt referenčných (výrobcom udaných) vonkajších podmienok. Chyby metódy eliminujeme použitím meracích prístrojov najmenšou
spotrebou, rozborom metódy merania príslušnou úpravou výsledku vzhľadom vlastnú spotrebu
. iných priamo nesledovaných, ale meranú veličinu
ovplyvňujúcich fyzikálnych veličín.
2. Druhú podskupinu tvorí nesprávne odčítanie
(nedôsledné, zaokrúhľovanie, odčítanie výchylky stupnici bez zrkadla (paralaxa), nesprávna
interpolácia stupnici) napokon patrí sem nesprávny výpočet meranej hodnoty odčítanej
výchylky. Zvláštnu pozornosť obvodoch malým odporom si
zaslúžia prechodové odpory rozoberateľných spojoch (svorky, prepínače), pretože tieto môžu
rozhodujúcim spôsobom ovplyvniť veličiny obvode nefunkčnosť príslušného zariadenia. Chyby meracom obvode. meracích
prístrojov objekt merania. Patrí sem predovšetkým pôsobenie magnetického
a elektrického poľa, teplota, otrasy, nečistoty.
Pôvod základných chýb nepresnosti výroby
- nepresnej kalibrácií
- pôsobení vnútorných rušivých magnetických elektrických polí
- oteplení spôsobenom vlastnou spotrebou prístroja
- starnutí materiálu súčiastok (permanentné magnety, odporníky,
pružiny
- opotrebovaní, alebo preťažení prístroja
- prívodných vodičoch
U analógových meracích prístrojov (klasických) pôvod chýb ešte je:
-v pôsobení vnútorných rušivých mechanických síl (trenie, lepenie)
U číslicových meracích prístrojov pôvod chýb ešte:
- nespojitosti analógovo-číslicového prevodu.Priemyselné meranie M
- -
1.
4.1.
1. Patrí sem predovšetkým vplyv vlastnej spotreby meracích prístrojov. nedodržaná poloha), atď. Patrí sem nesprávna voľba meracej
metódy, nesprávne zapojenie meracích prístrojov alebo typu meracích prístrojov, použitie
nefunkčného meracieho prístroja (neoverený, bez nastavenia nuly), nesprávne použitie meracích
prístrojov (napr. Chyby metódy.3 Eliminácia chýb merania
Spôsob eliminácie chýb merania bude závisieť ich pôvodu, budeme preto
postupovať podľa zoskupenia chýb predchádzajúcej kapitoly.j. Chyby meracieho prístroja. (V7) tejto skupiny patrí široký sortiment úvahy
prichádzajúcich omylov nedôsledností strany experimentátora, ktoré môžu rozhodujúcim
spôsobom ovplyvniť výsledok, prípadne úplne znehodnotiť.
2. (V8) tie, ktoré vznikajú meracom obvode
následkom tzv.
3
