|
Kategorie: Diplomové, bakalářské práce |
Tento dokument chci!
V této práci jsou popsány vybrané metody měření komplexní permitivity v mikrovlnném pásmu, jejich vlastnosti, výhody i nevýhody. Jsou zde diskutovány důvody jejich možného využití prokonstrukci měřícího pracoviště. Práce dále obsahuje popis zvolené metody využívající dutinový rezonátor, která je vybrána jako metoda nejvhodnější pro realizaci praktického měření. Práce obsahuje popis navrženého měřícího systému, který je simulován v programu HFSSAnsoft. Dále jsou v práci uvedeny výsledky simulací a výpočtů komplexní permitivity a ztrátového činitele. V závěru práce je uveden popis realizovaného pracoviště včetně výsledků měření provedených s vyrobeným rezonátorem.
K
eliminaci nepřesností vznikajících vlivem těchto difrakcí používají fokusované svazky
elektromagnetického záření. Velikost vzorku musí být
větší než šíře vyzařovaného svazku elektromagnetické energie, aby byly minimalizovány
ztráty způsobené difrakcí jeho hranách.4.4 Planární metody
Planární metody jsou založeny využití senzorů vytvořených deskách plošných spojů. Přesnost free-space metod menší než přesnost metod rezonátorových. Výhodou
těchto nedestruktivních metod možnost měření velkých vzorků, které jsou umístěny mezi
anténami. Podle [13] [15], byla funkčnost této metod ověřena v
kmitočtovém rozsahu 600 700 MHz
16
Obr.3 Metody měření volném prostoru
Principy těchto metod spočívají měření S-parametrů vzorku umístěného kolmo mezi dvěmi
anténami ozařovaného elektromagnetickým vlněním (viz.
je zobrazena free-space metoda bez fokusace elektromagnetického svazku.
1. Rezonance indikována podle průběhu S-21
parametru. 9). Difrakce projevuje také hranách antény.1.
Tyto způsoby měření komplexní permitivity jsou levné jednoduché, rozdíl jiných
metod mají ale menší přesnost. obr. Fokusace provádí čočkami konkávními zrcadly.1 Čtvrtvlnný rezonátor
Tyto metody využívají planární senzory. Senzor vytvořen čtvrtvlnného mikropáskového rezonátoru. 8.
1.
. Měřený materiál
je přiložen pod senzorem (viz. Protože obdélníkové okno umístěno daleko od
vstupního výstupního portu, interakce měřeným materiálem probíhá pouze přes toto okno
v uzemněné vrstvě mědi. Metoda měření volném prostoru. Komplexní permitivita vypočítána jako funkce
rezonančního kmitočtu senzoru pásma. obr. obr. 8)
