Měření komplexní permitivity materiálu v mikrovlnném pásmu

| Kategorie: Diplomové, bakalářské práce  | Tento dokument chci!

V této práci jsou popsány vybrané metody měření komplexní permitivity v mikrovlnném pásmu, jejich vlastnosti, výhody i nevýhody. Jsou zde diskutovány důvody jejich možného využití prokonstrukci měřícího pracoviště. Práce dále obsahuje popis zvolené metody využívající dutinový rezonátor, která je vybrána jako metoda nejvhodnější pro realizaci praktického měření. Práce obsahuje popis navrženého měřícího systému, který je simulován v programu HFSSAnsoft. Dále jsou v práci uvedeny výsledky simulací a výpočtů komplexní permitivity a ztrátového činitele. V závěru práce je uveden popis realizovaného pracoviště včetně výsledků měření provedených s vyrobeným rezonátorem.

Vydal: FEKT VUT Brno Autor: Radek Polák

Strana 19 z 65

Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.

Jak získat tento dokument?






Poznámky redaktora
3 Metody měření volném prostoru Principy těchto metod spočívají měření S-parametrů vzorku umístěného kolmo mezi dvěmi anténami ozařovaného elektromagnetickým vlněním (viz. 9).1 Čtvrtvlnný rezonátor Tyto metody využívají planární senzory. Fokusace provádí čočkami konkávními zrcadly. Velikost vzorku musí být větší než šíře vyzařovaného svazku elektromagnetické energie, aby byly minimalizovány ztráty způsobené difrakcí jeho hranách. 1. Přesnost free-space metod menší než přesnost metod rezonátorových. 1. je zobrazena free-space metoda bez fokusace elektromagnetického svazku. Tyto způsoby měření komplexní permitivity jsou levné jednoduché, rozdíl jiných metod mají ale menší přesnost. Difrakce projevuje také hranách antény. 8. Metoda měření volném prostoru.1. obr.4. K eliminaci nepřesností vznikajících vlivem těchto difrakcí používají fokusované svazky elektromagnetického záření. . Senzor vytvořen čtvrtvlnného mikropáskového rezonátoru. Výhodou těchto nedestruktivních metod možnost měření velkých vzorků, které jsou umístěny mezi anténami. obr. Komplexní permitivita vypočítána jako funkce rezonančního kmitočtu senzoru pásma. Rezonance indikována podle průběhu S-21 parametru. Protože obdélníkové okno umístěno daleko od vstupního výstupního portu, interakce měřeným materiálem probíhá pouze přes toto okno v uzemněné vrstvě mědi. Podle [13] [15], byla funkčnost této metod ověřena v kmitočtovém rozsahu 600 700 MHz 16 Obr. Měřený materiál je přiložen pod senzorem (viz. 8).4 Planární metody Planární metody jsou založeny využití senzorů vytvořených deskách plošných spojů. obr