Měření komplexní permitivity materiálu v mikrovlnném pásmu

| Kategorie: Diplomové, bakalářské práce  | Tento dokument chci!

V této práci jsou popsány vybrané metody měření komplexní permitivity v mikrovlnném pásmu, jejich vlastnosti, výhody i nevýhody. Jsou zde diskutovány důvody jejich možného využití prokonstrukci měřícího pracoviště. Práce dále obsahuje popis zvolené metody využívající dutinový rezonátor, která je vybrána jako metoda nejvhodnější pro realizaci praktického měření. Práce obsahuje popis navrženého měřícího systému, který je simulován v programu HFSSAnsoft. Dále jsou v práci uvedeny výsledky simulací a výpočtů komplexní permitivity a ztrátového činitele. V závěru práce je uveden popis realizovaného pracoviště včetně výsledků měření provedených s vyrobeným rezonátorem.

Vydal: FEKT VUT Brno Autor: Radek Polák

Strana 18 z 65

Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.

Jak získat tento dokument?






Poznámky redaktora
Pro měření předpokládá využití dominantního vidu. .1. Metoda úzkopásmová, použitelné kmitočty závisí použitém vlnovodu.3 Vlnovod vloženým vzorkem. této metodě nebyl nalezen dostatek informačních zdrojů, z tohoto důvodu její využití nepředpokládá. Vlnovod vloženým vzorkem (převzato [8]). 1. Vlnovod částečně naplněný dielektrikem. Do vlnovodu vložen měřený vzorek materiálu, který ozařován elektromagnetickou vlnou postupující vlnovodem (viz. Tato metoda vhodná měření nízkoztrátových materiálů. Všechny příčiny nepřesnoti nejsou známy. Komplexní permitivitu vloženého materiálu možné vypočítat S-11 S-21 parametrů, které jsou měřeny vektorovým analyzátorem připojeným na vstup výstup vlnovodu.). Problémy této metody způsobují vzduchové mezery mezi vzorkem stěnami vlnovodu, pokud rozměry vzorku nejsou shodné vnitřními rozměry vlnovodu. Tato metoda není vhodná měření magnetických materiálů. Vzduchové mezery mezi vzorkem vlnovodem způsobují nepřesnosti měření a mohou vést vybuzení vyšších vidů. 15 Obr.4 Vlnovod částečně naplněný dielektrikem Způsob umístění vzorku vlnovodu zobrazen obr.2. Podle [12] byla funkčnost metody ověřena na kmitočtech 2-3 GHz. 6. obr.2. Dielektrické vlastnosti měřeného vzorku jsou vypočítány S- parametrů. Obr