Měření komplexní permitivity materiálů metodou ve volném prostoru

| Kategorie: Diplomové, bakalářské práce  | Tento dokument chci!

Cílem této diplomové práce je vývoj měřicího pracoviště pro metodu měření komplexní permitivity ve volném prostoru. Na začátku diplomové práce je metoda popsána. Dále je pozornost zaměřena na diskusi týkající se elektromagnetických vlastností hmoty, srovnáním používaných metod pro měření komplexní permitivity, interakcí rovinné elektromagnetické vlny s rovinnou nekonečnou deskou obecného dielektrického prostředí a popisem vyzařovacích diagramů mikrovlnných antén. Ve zbytku práce je navrženo a vyrobeno měřicí pracoviště pro metodu měření ve volném prostoru. Jako zářič je vybrána pyramidální trychtýřová anténa. Anténa je navržena včetně přechodu koaxiální kabel – vlnovod v programu CST Microwave Studio, následně vyrobena ve dvou vzorcích a změřena. V závěru je vyrobené měřicí pracoviště využito k měření komplexní permitivity.

Vydal: FEKT VUT Brno Autor: Jiří Nekovář

Strana 46 z 59

Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.

Jak získat tento dokument?






Poznámky redaktora
. Proto bude následovat další postup měření, při kterém bude změřeno několik vybraných vzorků různých materiálů. Vlastnosti materiálu jsou určeny základě změřených výsledků pomocí vektorového obvodového analyzátoru hodnota komplexní permitivity vypočtena pomocí koeficientů odrazu s11 přenosu s21. Před prováděným měřením nezbytné celou sestavu zkalibrovat pomocí free-space TRL ( through, reflect, line kalibrační techniky následně aplikovat metodu time domain gating časová oblast )[3].34 ZÁVĚR Popisovaná metoda pro měření komplexní permitivity volném prostoru používá dvě pyramidální trychtýřové antény pro měření pásmu GHz. Metodu nejmenších čtverců ). Mechanismus zajišťující nastavení požadované polohy vyroben zakoupených přesných polohovacích pojezdů jako hotových výrobků příslušného výrobce, čímž zajištěno nejpřesnější nastavení vzdálenosti obou měřicích antén testovaného vzorku materiálu. těchto oborech umožňuje velmi přesně, rychle, bezkontaktně hlavně nedestruktivně změřit komplexní permitivitu zkoumaného izotropního anizotropního prostředí nebo materiálu[1]. Vzhledem kolísání vypočtených hodnot je vhodné použít některou aproximační metodu např. Sestava obsahuje kovové součástky nutné pro zachování potřebné pevnosti životnosti celého měřícího přípravku. Navrhovaná sestava neobsahuje fokusovací čočky umístěné aperturách trychtýřových antén. v plazmatické chemii, fyzice polovodičů, při vývoji dielektrických polovodivých materiálů součástek, při studiu vlastností živé hmoty atd. Pro zajištění správných výsledků měření komplexní permitivity volném prostoru potřeba, aby mikrovlnná energie byla soustředěna svazku, který bude mít průměr menší než jsou příčné rozměry vzorku. Tímto omezí vliv odrazů okolních předmětů. Toto tvrzení však není ověřeno časových důvodů. úspěchem používána řadě jiných oborů, např. Vlivem absence zaostřujícího mechanismu částečně ovlivněna přesnost měření koeficientů odrazu s11 přenosu s21. Celá tato polohovací sestava je připevněna desce vyrobené dřevotřísky. Podle doporučení [2] velikost testovaného vzorku větší než 5λ, aby minimalizovala difrakce vzniklá okrajích měřeného materiálu. Popisovanou metodou odrazu pravděpodobně nelze měřit nízkoztrátové materiály, kterých vychází nulová imaginární složka komplexní permitivity. Měření komplexní permitivity materiálů metodou volném prostoru široké uplatnění průmyslu[2]. V diplomové práci jsou uvedeny výsledky experimentálního měření komplexní permitivity destičky vyrobené materiálu Arlon 25N. Výsledky komplexní permitivity obdržené pomocí metody odrazu, při které používá naměřených hodnot činitele odrazu s11, jsou zasaženy většími chybami než při použití metody přenosu. provedených experimentů[1] lze stanovit šířku optimálně fokusovaného svazku velikost přibližně 3λ0. Antény jsou vyrobeny pocínovaného plechu. Ze získaných výsledků lze vyhodnotit přibližnou hodnotu skutečné komplexní permitivity měřeného vzorku materiálu