Materiál týmu pracovníků elektrotechnických laboratoří

| Kategorie: Skripta  | Tento dokument chci!

Ukázka skript Elektrotechnická měření - pracovní sešit pro třetí ročník KONTROLA A CEJCHOVÁNÍ MĚŘÍCÍCH PŘÍSTROJŮ - Kontrola spočívá ve stanovení chyby kontrolované stupnice. - Cejchování spočívá v nakreslení nové stupnice, přičemž měrné body vynášíme podle normálového přístroje. Při kontrole postupujeme tak, že celé dílky nastavujeme na kontrolovaném přístroji a na přesném přístroji odečítáme správný údaj. Používáme ten druh proudu pro který je přístroj určen. 1) Kontrola voltmetru Výpočty: absolutní chyba: Ap= N- naměřená hodnota (hodnota na kontrolovaném přístroji) S- skutečná hodnota (hodnota na přesném přístroji) korekce: K= relativní chyba: ÓRM = M= měřící rozsah Třídu přesnosti určíme tak, že zjištěnou největší relativní chybu zaokrouhlíme na nejbližší vyšší hodnotu tříd přesnosti stanovených normou z řady 0,1; 0,2; 0,5; 1; 1,5; 2,5; 5. Korekční křivka- závislost K= f (a) Jediná křivka jejíž body spojujeme přímkami (neprokládáme) Příklad tabulky: Kontrolovaný voltmetr přesný voltmetr ...

Autor: Střední průmyslová škola a Vyšší odborná škola, Chomutov

Strana 62 z 125

Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.

Jak získat tento dokument?






Poznámky redaktora
Kamerový systém pro automatickou inspekci II 18. Měření aktivních filtrech (VEE) sadu tvoří úlohy K (1.týden) K (1. Vzorkovač rekonstrukce průběhu FFT analýza (VEE) K (1. Měření stabilizátorech 3. Ultrazvukový dálkoměr (VEE) K (1. 2. Programová realizace digitálních filtrů (VEE) 23. týden) 10. týden) 7. Model ohmetru multimetru (VEE) 16. Kamerový systém pro automatickou inspekci I 15.týden) K (3. 4.týden) 21.týden) 17. 4.+2. Měření převodníku U 11.týden) K (1.týden) K (1.Využití digitálního osciloskopu jako reflektometru 14.týden) K (1. Automatické třídění odporů využitím (VEE) 22.týden) K (1. Testování telekomunikačního impulsu pomocí masky (VEE) sadu tvoří úlohy K (1. 4.týden) K (3. Měření integračním zesilovači 12.týden) K (1.+2. Měření kapacity dynamického odporu Zenerovy diody 2. Měření základní zapojení 5.týden) K (3. Měření analogovém multiplexeru K (1.týden) K (3. 4. 4. 4.+2. Měření vlastností OZ 9.týden) K (3. Vzorkovač- měření frekvence periody 24. Měření převodníku f/U U/f (VEE) K (1. 2. 4. Měření PEH nebo (VEE) K (1.+2.+2. 4. Měření číslicově řízeném zdroji 8.týden) K (1.+2. týden) 13.týden) V každém pololetí provede jedno praktické přezkoušení 1. Automatizovaný test TTL hradla (VEE) 20.+2.týden) K (3.týden) K (1. týden) 4. 4. Měření A/Č převodníku využitím logického analyzátoru 19.+2. Měření impulsním zdroji 6.týden) K (1. praktické přezkoušení bude úlohách 2.týden) K (1. praktické přezkoušení úlohách . 4.V4 PRAKTICKÁ MĚŘENÍ SEZNAM ÚLOH školní rok 2012/2013 ÚLOHY Počet 1.týden) K (1