Materiál týmu pracovníků elektrotechnických laboratoří

| Kategorie: Skripta  | Tento dokument chci!

Ukázka skript Elektrotechnická měření - pracovní sešit pro třetí ročník KONTROLA A CEJCHOVÁNÍ MĚŘÍCÍCH PŘÍSTROJŮ - Kontrola spočívá ve stanovení chyby kontrolované stupnice. - Cejchování spočívá v nakreslení nové stupnice, přičemž měrné body vynášíme podle normálového přístroje. Při kontrole postupujeme tak, že celé dílky nastavujeme na kontrolovaném přístroji a na přesném přístroji odečítáme správný údaj. Používáme ten druh proudu pro který je přístroj určen. 1) Kontrola voltmetru Výpočty: absolutní chyba: Ap= N- naměřená hodnota (hodnota na kontrolovaném přístroji) S- skutečná hodnota (hodnota na přesném přístroji) korekce: K= relativní chyba: ÓRM = M= měřící rozsah Třídu přesnosti určíme tak, že zjištěnou největší relativní chybu zaokrouhlíme na nejbližší vyšší hodnotu tříd přesnosti stanovených normou z řady 0,1; 0,2; 0,5; 1; 1,5; 2,5; 5. Korekční křivka- závislost K= f (a) Jediná křivka jejíž body spojujeme přímkami (neprokládáme) Příklad tabulky: Kontrolovaný voltmetr přesný voltmetr ...

Autor: Střední průmyslová škola a Vyšší odborná škola, Chomutov

Strana 62 z 125

Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.

Jak získat tento dokument?






Poznámky redaktora
Měření převodníku U 11. Měření A/Č převodníku využitím logického analyzátoru 19. 4. 4.+2.V4 PRAKTICKÁ MĚŘENÍ SEZNAM ÚLOH školní rok 2012/2013 ÚLOHY Počet 1. Kamerový systém pro automatickou inspekci II 18. Automatizovaný test TTL hradla (VEE) 20.týden) K (3. 4. Vzorkovač- měření frekvence periody 24. 2. praktické přezkoušení bude úlohách 2. Měření impulsním zdroji 6.týden) K (3. Kamerový systém pro automatickou inspekci I 15. 4.týden) V každém pololetí provede jedno praktické přezkoušení 1. praktické přezkoušení úlohách .+2.týden) K (3.Využití digitálního osciloskopu jako reflektometru 14.týden) K (1.+2. Měření PEH nebo (VEE) K (1.týden) K (1.týden) K (1. týden) 13. Měření číslicově řízeném zdroji 8. Vzorkovač rekonstrukce průběhu FFT analýza (VEE) K (1. Měření kapacity dynamického odporu Zenerovy diody 2.týden) 17. 4.týden) 21. Měření základní zapojení 5. Měření analogovém multiplexeru K (1.+2. týden) 4. týden) 7.+2.+2.týden) K (3.týden) K (1.týden) K (1. 4. 4.týden) K (1. Měření aktivních filtrech (VEE) sadu tvoří úlohy K (1. Ultrazvukový dálkoměr (VEE) K (1. Automatické třídění odporů využitím (VEE) 22.týden) K (1. Model ohmetru multimetru (VEE) 16. Měření integračním zesilovači 12. 4. Testování telekomunikačního impulsu pomocí masky (VEE) sadu tvoří úlohy K (1. Programová realizace digitálních filtrů (VEE) 23.týden) K (1. 2.+2.týden) K (3. týden) 10.týden) K (1. 4. 4. Měření vlastností OZ 9.+2.týden) K (3.týden) K (1. Měření stabilizátorech 3.týden) K (1. Měření převodníku f/U U/f (VEE) K (1