Materiál týmu pracovníků elektrotechnických laboratoří

| Kategorie: Skripta  | Tento dokument chci!

Ukázka skript Elektrotechnická měření - pracovní sešit pro třetí ročník KONTROLA A CEJCHOVÁNÍ MĚŘÍCÍCH PŘÍSTROJŮ - Kontrola spočívá ve stanovení chyby kontrolované stupnice. - Cejchování spočívá v nakreslení nové stupnice, přičemž měrné body vynášíme podle normálového přístroje. Při kontrole postupujeme tak, že celé dílky nastavujeme na kontrolovaném přístroji a na přesném přístroji odečítáme správný údaj. Používáme ten druh proudu pro který je přístroj určen. 1) Kontrola voltmetru Výpočty: absolutní chyba: Ap= N- naměřená hodnota (hodnota na kontrolovaném přístroji) S- skutečná hodnota (hodnota na přesném přístroji) korekce: K= relativní chyba: ÓRM = M= měřící rozsah Třídu přesnosti určíme tak, že zjištěnou největší relativní chybu zaokrouhlíme na nejbližší vyšší hodnotu tříd přesnosti stanovených normou z řady 0,1; 0,2; 0,5; 1; 1,5; 2,5; 5. Korekční křivka- závislost K= f (a) Jediná křivka jejíž body spojujeme přímkami (neprokládáme) Příklad tabulky: Kontrolovaný voltmetr přesný voltmetr ...

Autor: Střední průmyslová škola a Vyšší odborná škola, Chomutov

Strana 61 z 125

Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.

Jak získat tento dokument?






Poznámky redaktora
Automatizované měření charakteristiky polovodiče (VEE) 20. praktické přezkoušení bude úlohách 2. Kamerový systém pro automatickou inspekci I 15. Programová realizace digitálních filtrů (VEE) 23. 4. Vzorkovač rekonstrukce průběhu FFT analýza (VEE) K (1. Měření aktivních filtrech (VEE) sadu tvoří úlohy K (1.+2.+2. Automatické třídění odporů využitím (VEE) 22.týden) K (1. 4.týden) K (3. Měření malých proudů 24.týden) K (3. 4.týden) K (3.týden) K (3.týden) K (1.týden) K (1. 4.+2.týden) K (1. 4. Vzorkovač- měření frekvence periody (VEE) K (1. 4. 4. Měření číslicově řízeném zdroji 8. Měření základní zapojení 5. Měření stabilizátorech 3.týden) V každém pololetí provede jedno praktické přezkoušení 1. týden) 7. Model ohmetru multimetru (VEE) 16. Měření převodníku f/U U/f (VEE) K (1. Měření kapacity dynamického odporu Zenerovy diody 2.týden) K (1.Využití digitálního osciloskopu jako reflektometru 14. Měření impulsním zdroji 6.týden) 21. Kamerový systém pro automatickou inspekci II 18. 4.+2.týden) K (1.A4 PRAKTICKÁ MĚŘENÍ SEZNAM ÚLOH školní rok 2012/2013 ÚLOHY Počet 1.týden) K (1.týden) K (1. týden) 10.+2. týden) 4.týden) K (3. Měření vlastností OZ 9. Měření A/Č převodníku využitím logického analyzátoru 19. Měření převodníku U 11.týden) K (1. týden) 13.týden) K (1.týden) K (1. praktické přezkoušení úlohách . 4.týden) 17.+2. 2. Měření integračním zesilovači 12. Ultrazvukový dálkoměr (VEE) K (1. Kapacitní snímač pro měření tloušťky fólie (VEE) sadu tvoří úlohy K (1. Měření PEH nebo (VEE) K (1.týden) K (3.+2. 4. 2.+2