Materiál týmu pracovníků elektrotechnických laboratoří

| Kategorie: Skripta  | Tento dokument chci!

Ukázka skript Elektrotechnická měření - pracovní sešit pro třetí ročník KONTROLA A CEJCHOVÁNÍ MĚŘÍCÍCH PŘÍSTROJŮ - Kontrola spočívá ve stanovení chyby kontrolované stupnice. - Cejchování spočívá v nakreslení nové stupnice, přičemž měrné body vynášíme podle normálového přístroje. Při kontrole postupujeme tak, že celé dílky nastavujeme na kontrolovaném přístroji a na přesném přístroji odečítáme správný údaj. Používáme ten druh proudu pro který je přístroj určen. 1) Kontrola voltmetru Výpočty: absolutní chyba: Ap= N- naměřená hodnota (hodnota na kontrolovaném přístroji) S- skutečná hodnota (hodnota na přesném přístroji) korekce: K= relativní chyba: ÓRM = M= měřící rozsah Třídu přesnosti určíme tak, že zjištěnou největší relativní chybu zaokrouhlíme na nejbližší vyšší hodnotu tříd přesnosti stanovených normou z řady 0,1; 0,2; 0,5; 1; 1,5; 2,5; 5. Korekční křivka- závislost K= f (a) Jediná křivka jejíž body spojujeme přímkami (neprokládáme) Příklad tabulky: Kontrolovaný voltmetr přesný voltmetr ...

Autor: Střední průmyslová škola a Vyšší odborná škola, Chomutov

Strana 63 z 125

Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.

Jak získat tento dokument?






Poznámky redaktora
Měření převodníku U/f F/U (VEE Pro) 19. Měření kondenzátorech 4. Kamerový inspekční systém II 21. Měření jalového výkonu 8. Měření impulsně spínaném zdroji 14. Převodník R/U, model Ohmetru 24. Měření polovodičové diodě 9. Vzorkovač (VEE Pro) 22.B1T PRAKTICKÁ MĚŘENÍ SEZNAM ÚLOH školní rok 2012/2013 TÉMATICKÝ CELEK TÉMA POZNÁMKA 1. Kapacitní snímač měření tloušťky izolantu 26. Kamerový inspekční systém I 20. Základní měření osciloskopem generátorem 3. Měření střídavého výkonu 7. Měření cívkách 5. Přenos dat mezi Agilent VEE Excel 25. Ultrazvukový snímač měření vzdálenosti . Měření diaku 10. Měření PEH (VEE Pro) 18. Měření aktivních filtrech (VEE Pro) 17. Měření TTL obvodech 12. Měření napětí proudů stejnosměrných obvodech 2. Měření optronu 11. Měření operačních zesilovačích 15. Měření stabilizátorech 13. Měření stejnosměrného výkonu 6. Digitální filtry (VEE Pro) 23. Model paralelního rezonančního obvodu (VEE Pro) 16