Ukázka skript Elektrotechnická měření - pracovní sešit pro třetí ročník
KONTROLA A CEJCHOVÁNÍ MĚŘÍCÍCH PŘÍSTROJŮ
- Kontrola spočívá ve stanovení chyby kontrolované stupnice.
- Cejchování spočívá v nakreslení nové stupnice, přičemž měrné body vynášíme podle
normálového přístroje.
Při kontrole postupujeme tak, že celé dílky nastavujeme na kontrolovaném přístroji a
na přesném přístroji odečítáme správný údaj.
Používáme ten druh proudu pro který je přístroj určen.
1) Kontrola voltmetru
Výpočty:
absolutní chyba:
Ap=
N- naměřená hodnota
(hodnota na kontrolovaném přístroji)
S- skutečná hodnota
(hodnota na přesném přístroji)
korekce:
K=
relativní chyba:
ÓRM =
M= měřící rozsah
Třídu přesnosti určíme tak, že zjištěnou největší relativní chybu zaokrouhlíme na
nejbližší vyšší hodnotu tříd přesnosti stanovených normou z řady 0,1; 0,2; 0,5; 1; 1,5;
2,5; 5. Korekční křivka- závislost K= f (a)
Jediná křivka jejíž body spojujeme přímkami (neprokládáme)
Příklad tabulky:
Kontrolovaný voltmetr přesný voltmetr ...
Autor: Střední průmyslová škola a Vyšší odborná škola, Chomutov
Strana 63 z 125
Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.
Měření jalového výkonu
8. Kapacitní snímač měření tloušťky izolantu
26. Základní měření osciloskopem generátorem
3. Vzorkovač (VEE Pro)
22. Měření převodníku U/f F/U (VEE Pro)
19. Měření aktivních filtrech (VEE Pro)
17. Měření impulsně spínaném zdroji
14. Ultrazvukový snímač měření vzdálenosti
. Měření cívkách
5. Měření stejnosměrného výkonu
6. Měření střídavého výkonu
7. Měření TTL obvodech
12. Měření PEH (VEE Pro)
18. Digitální filtry (VEE Pro)
23. Měření operačních zesilovačích
15. Kamerový inspekční systém II
21. Přenos dat mezi Agilent VEE Excel
25. Model paralelního rezonančního obvodu (VEE Pro)
16. Měření kondenzátorech
4. Měření stabilizátorech
13. Měření napětí proudů stejnosměrných obvodech
2.B1T
PRAKTICKÁ MĚŘENÍ SEZNAM ÚLOH školní rok 2012/2013
TÉMATICKÝ CELEK TÉMA POZNÁMKA
1. Převodník R/U, model Ohmetru
24. Měření polovodičové diodě
9. Kamerový inspekční systém I
20. Měření optronu
11. Měření diaku
10
