Elektronika tajemství zbavená (4)

| Kategorie: Kniha  | Tento dokument chci!

Kniha 4: Pokusy s optoelektronikou.

Vydal: HEL, ul. 26. dubna 208, 725 27 Ostrava - Plesná Autor: Adrian Schommers

Strana 172 z 190

Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.

Jak získat tento dokument?






Poznámky redaktora
Tento svodový proud může být vý­ znamný při měření světla malé intenzitě. Návrhář rychlých obvodů však tomuto stavu vyhýbá, protože tranzistoru nějakou dobu trvá, než něj opět dostane. mezní kmitočet klesá. „Doba náběhu doba doběhu“ („Rise and fall time“) popisuje projevy, kterými jsme již seznámili diody LED: zlepšující citli­ vostí bude součástka pomalejší. Graf závislosti celkového ztrátového výkonu teplotě okolí fototranzistorů méně zajímavý, protože jej sotva někdo používá výkonovým účelům. „Saturační napětí kolektor-emítor“ („Collector-emitter saturation voltage“) mini­ mální napětí, které zůstane mezi kolektorem emitorem při plném vybuzení. Nakonec ještě tabulka uvádí „Proudové zesílení“, kterým různé skupiny tranzistorů BP 103 zesilují fotoelektrický nebo zvenčí přivedený bázový proud („Current gain“). V druhé tabulce jsou, jak již bylo zmíněno, uvedeny rozdíly mezi třemi skupinami tohoto typu fototranzistorů. „Svodový proud kolektor-emitor“ („Collector-emitter leakage current“) proud, který teče mezi kolektorem emitorem, když fototranzistor nedopadá absolutně žádné světlo. zde vidět dobrá linearita fototranzistorů. Proto není vždy místě volit typ IV. Pra­ covní odpor při těchto měřeních byl Zvětšením tohoto odporu může být citli­ vost zapojení zvýšena, současně ale stoupají časové konstanty členů, které jsou těmito odpory tvořeny, proto rychlost zapojení, resp. Podle tohoto údaje mohou návrháři obvodů usoudit, jaký bude mít svodový proud vliv výsledky měření světla. zpětnovazební větví operačního zesilovače) tím šířku pásma rozšířit. Saturační napětí tedy představuje hranici vybuzení. Je-li tranzistor chlazen, smí být podle účinnosti chlazení akceptovány vyšší hodnoty, ale žádném případě nad horní křivkou. Význam těchto údajů možno pochopit souvislosti osa­ zením tranzistoru konkrétního zapojení. Tři grafy poslední straně katalogových listů ukazují sku­ tečně silně nelineární průběhy kapacit mezi jednotlivými vývody závislosti na napětí. Jako další jsou tabulce uvedeny kapacity mezi třemi vývody fototranzistorů. Již měřicí definice jednotlivých dvojic dávají tušit, kapacity jsou skutečnosti závislé konkrétních hodnotách jiných parametrů zde uvedeno jen pár hodnot pro orientaci. Směrodatná normálních okolností dolní křivka. tom okamžiku např. Graf vypoví­ dá tom, jaké ztrátové výkony smí tranzistor při různých teplotách maximálně vyví­ jet.definici. dru­ hé straně možno obratným řešením obvodu pracovní odpor „uměle“ snížit (např. projeví odpory, které kapacitami vytvoří dolní propusti tím silně ovlivní kmitočtově závislé chování fototranzistorů. Vymluvnější proto graf „Fotoproud závislosti intenzitě osvětlení“ na straně katalogových listů. Změny hodnot jsou značné, přičemž zde ještě nebyla zahrnuta závislost ka­ pacity fotoproudu. . Ostatně ani tyto doby nelze považovat absolutní, protože silně závisí okolních obvodech