Kniha se zabývá problematikou sledování provozního stárnutí izolačních systémů elektrických strojů a přístrojů na vysoké napětí. Podrobně jsou popsány diagnostické metody a důraz je kladen na jejich použití v praxi. Je určena inženýrům, projektantům, provozním technikům z elektráren, rozvoden a výrobních podniků. Budou ji moci používat i studující vysokých škol a středních škol příslušných specializací.
Strana 194 z 252
«
Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.
»
Jak získat tento dokument?
Poznámky redaktora
4. Měření izolovaného objektu při rušení
proudem 1,
napětí. 97. Výsledný rušivý proud dán poměrnou velikostí dílčích rušivých proudů
a jejich fází. Působení zdrojů rušení měřený
objekt
Obr. Rušivý proud obvykle
součtem všech proudů, které procházejí dílčími vazebními kapacitami mezi zdroji
rušení částí měřeného objektu, která spojena měřicím obvodem. jiných zapojení jsou poměry
poněkud odlišné, avšak dochází vždy chybám měření vlivem nesouměrnosti
rušivého měřicího proudu, který prochází jednotlivými částmi měřicího obvodu
jinak než proud vyvolaný zdrojem měřicího napětí. 96), krajním, případě mohou mít různá jmenovitá
r v3©
=F
Obr.
Rušivé proudy procházející kapacitami, které lze nahradit jednou kapacitou C'vx,
vstupují měřicího obvodu diagonále můstku, jejich největší část soustředí
197
. obr. 96. Ovlivnění výsledků měření rušivým proudem bude tím větší,
čím vyšší bude napětí okolní soustavě Čím větší budou vazební kapacity, které
jsou dány konfigurací měřeného objektu zdroje rušení.29. Zdroje rušivých proudů pak možno shrnout jednoho zdroje,
jehož jeden pól uzemněn druhý určitém potenciálu, který kromě jiného
závisí vzájemném postavení jednotlivých dílčích zdrojů rušení prostoru. Rušivé vlivy při měřeni
Měření kapacit ztrátového Činitele Scheringovým můstkem měření značně
citlivé vliv parazitních vazeb okolím. Kromě toho
je velikost fáze proudu ovlivněna výší fází napětí zdroje rušení, kterých je
pravidelně několik (obr. Proud, který způsobuje rušení (/r),
vzniká nejčastěji kapacitní vazbou mezi měřicím obvodem okolním zařízením,
které pod napětím.
Jakým způsobem dochází chybám měření, bude odvozeno pro zapojení, které
se užívá při měřeních izolovaných objektech. Ostatní
části měřicího obvodu (větve Cn; i?4; C4; lze považovat dostatečně odstíněné.
Jednotlivé trušivé proudy, procházející vazebními kapacitami, jež lze sloučit do
kapacity fázorově sečtou měřicím, proudem prvním přiblížení lze jejich
vliv zanedbat. zdroj rušivého
napětí, který působí přes jednotlivé vazební kapacity měřený objekt
