Predkladaný vysokoškolský učebný text má elektronickú formu a obsahuje všeobecné
poznatky súvisiace s teoretickou a praktickou výučbou v rámci predmetu „Informatické
a priemyselné meranie“. Tento predmet je súčasťou študijných programov bakalárskeho
štúdia na Fakulte elektrotechniky a informatiky Technickej univerzity v Košiciach. Jedná sa
o akreditovaný študijný program: „Aplikovaná informatika“ v študijnom odbore „Aplikovaná
informatika“.. Jeho absolvovaním študenti získajú . 6 kreditov.
Autor: Miroslav Mojžiš
Strana 12 z 79
Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.
Etalón prvého rádu tvorí tzv. Určí vzťahu:
k kde rozsah jednotkách veličiny
αr rozsah stupnice dielikoch
α výchylku odčítame dosadíme v
dielikoch. tlak).2)
. Etalóny postupne od
najpresnejšieho menej presné označené rádom. Svedecký etalón určený pre použitie prípade, hlavný sa
poškodí, odcudzí pod. rXtp
(1.
1. Používanie analógových meracích prístrojov
Používanie analógových meracích prístrojov vyžaduje minimálne znalosť, základe
ktorej odčítanej výchylky vieme určiť meranú hodnotu.Priemyselné meranie M
- -
Etalón francúzskeho), normál nemeckého), standard anglického jazyka) jednotky,
je vzor fyzikálnej jednotky.
k číslo, ktoré udáva aká hodnota veličiny spôsobí výchylku ukazovateľa dielik
stupnice.1)
Výsledná nameraná hodnota potom rovná súčinu rozsahu meracieho prístroja v
jednotkách (j) meranej veličiny pomeru aktuálnej výchylky dielikoch) plnej výchylke v
dielikoch. konštanta prístroja
α výchylka jeho ukazovateľa
X hodnota meranej veličiny udáva ako násobok niektorej jej jednotky (hlavná,
násobná, dielčia, vid.
Povolená (max) chyba ∆Xmx:
∆Xmx=
100
. Zápis tvar dekadického čísla, ktorým skratka príslušnej
jednotky. stranu 16).
hlavný etalón svedecký etalón.5. Platná
hodnota takejto jednotky potom priemerná všetkých tvoriacich skupinu.
X Xr/αr α/αr [j; (1. nejakú jednotku musí
reprezentovať viac samostatných zariadení hovoríme skupinový etalón (napr. Spravidla jedná reprodukčné zariadenie. Najpresnejší primárny etalón, ktorý
nadväzujú sekundárne etalóny prvého, druhého ďalších rádov.
Pre analógové meracie prístroje platí základný vzťah:
X kde hodnota meranej veličiny
k tzv
