Přehledový katalog TESTE

| Kategorie: Leták / Datasheet  | Tento dokument chci!

Vydal: TESTOVACÍ TECHNIKA s.r.o.

Strana 17 z 51







Poznámky redaktora
• klasickém režimu měření voltampérových charakte­ ristik možno pracovat ve 4-kvadrantovém režimu až do ±210 V/1 rozlišením 100 nebo dokonce 10 externím předzesi- lovačem. • Rozsáhlá škála příslušenství (kryostat, pec,. Amplified Detector 4200A-SCS • Modulární, komplexní analyzátor parametrů, který umožňuje proměřovat charakteristiky polovodičo­ vých materiálů režimech U/l C/V, pulzním vybave­ ním Ultra-Fast U/l. • Pro impedanční měření v rozsahu frekvencí kHz - MHz základním napětím ±30 možností interního bias, nebo externího V. • Měření elektrické impe­ danční spektroskopie (EIS), admitance, permitivity a kapacityje prováděno ze softwarové platformy XMstudio MTS společně s integrovanou funkcí navrhování ekvivalentních analogových obvodů.) činí toto řešení komplexím pro cha­ rakterizaci materiálů. • Pro základní U/l charakte­ rizace lze použít měřicí zdroje KEITHLEY řad 2400 a 2600B (pro tuto řadu je k dispozici IVy pro mo­ bilní telefony, který automa­ tizaci měření usnadňuje). • Uživatelsky zaměřený SW ClariusTM poskytuje interaktivní návody, návrhy zapojení konfiguraci pří­ stroje pro stovky standard­ ních úloh polovodičovém výzkumu průmyslu.. U/l CHARAKTERIZAČNÍ SYSTÉMY 19 . • Střídavé testovací techniky zahrnují vše analýzy jednoho cyklu mul- tisine rychlou Fourierovu transformaci pro rychlejší nízkofrekvenční analýzu, harmonické intermodu- lace pro testování linearity a rozpadu materiálů. • Systém lze rozšiřovat podle aktuálních potřeb. • pulzním režimu rozsahu ±40 (80 Vp-p), ±800 mAje k dispozici arbitrary gene­ rátor rozlišením časové oblasti ns. • Tentýž modul umožňuje měřit závislost kapacity na napětí, frekvenci čase. • Pro snímání přechodové charakteristiky jsou použity dvě A/D jednotky 200 MSa/ sec ns), jedna pro měření napětí jedna pro proud. • Měření časové doméně zahrnuje volt-ampérovou charakterizaci měření pomocí rychlých pulsů..teste U/l CHARAKTERIZAČNÍ SYSTÉMY 4200A-SCS KEITHLEY A Tektronix Company 4200 PMU MATERIALS LAB XM • Materials Lab apli­ kační specifický (Xtreme Measurement) nástroj, který primárně zaměřen na materiálový výzkum. Vyře­ šena podpora různých kontaktovacích stanic, kryogenních systémů po­ užívaných oblasti výzku­ mu vývoje polovodičových materiálů. • Pro urychlení měření za­ mezení chyb při přepojová­ ní dispozici také přímo řízená přepínací jednotka 4200A-CVIV Multi-Switch, se kterou možno auto­ matizovat přepínání mezi režimy U/l C/V