Planární fraktální filtr na substrátu s porušenou zemí

| Kategorie: Diplomové, bakalářské práce  | Tento dokument chci!

Tato diplomová práce se zabývá problematikou planárních filtrů kombinujících fraktální motivy a porušenou zemní plochu. Práci lze rozdělit na tři hlavní části. První část se zaměřuje na obecné poznatky z oblasti fraktálních motivů, jako jsou např. tvorba Minkowského ostrova a Kochovy smyčky. Dále je popsán princip činnosti strukturs porušenou zemní plochou a stručně jsou představeny filtry kombinující fraktální motivy a porušenou zemní plochu. Vlastnosti zkoumaných struktur jsou následně ověřeny pomocí programů CST Microwave Studio a Ansoft HFSS. V druhé části prácejsou porovnávány odlišně porušené zemní plochy pod 50 přenosovým vedením a jsou vytvořeny konvenční ekvivalenty k ověřovaným filtrům. Filtry jsou simuloványa porovnány. Poslední část obsahuje přepočet ověřovaných filtrů na substrát Arlon 25N, simulaci, výrobu, měření a konfrontaci s konvečním filtrem na substrátu s porušenou zemní plochou.

Vydal: FEKT VUT Brno Autor: Martin Kufa

Strana 23 z 69

Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.

Jak získat tento dokument?






Poznámky redaktora
Pro doplňkový modul ks´ kse´ platí vztahy (4) podle [8] 2 1´ 2 1´ sese (4) Úplný eliptický integrál prvního druhu můžeme vypočítat Landenovou metodou, kdy se z modulu určí úhly φ0, φ1, φn, jež jsou patrné vztahů (5) podle [8] ( )karcsin0             = 2 arcsin 02 1 ϕ ϕ             = 2 arcsin 12 2 ϕ ϕ             = − 2 arcsin n n tg ϕ ϕ (5) pak K(k) lze vypočítat vztahem (6) podle [8] ( ) ( )0 121 cos coscoscos 2 ϕ ϕϕϕπ −⋅⋅⋅ ⋅= n kK L .22 2. (6) Počet úhlů závisí požadované přesnosti výsledku, facto počtu desetinných míst.2 Ověření koplanárního fraktálního filtru DGS programu CST Vzhledem tomu, [3] ani [4] není popsána hodnota mezery mezi mikro- páskovým vedením zeměmi, bude tato mezera navržena ohledem dodržení 50 přizpůsobení podle vztahů metody konformního zobrazení uvedených [8]. Efektivní permitivitu symetrického CPW možné podle [8] vypočítat vzorcem (7) ( ) ( ) ( ) ( )´ ´ 2 1 1 se se s sr ef kK kK kK kK r ⋅⋅ − += ε ε , (7) kde představuje permitivitu materiálu. Charakteristická impedance koplanárního vlnovodu dle [8] lze vypočítat vztahu (8) . Při řešení mikrovlnných planárních struktur metodou konformního zobrazení využívá úplných eliptických integrálů, které jsou definovány vztahem (1) podle [8] ( ) ( ) dx xkx kK ⋅−⋅− = 1 0 222 11 1 , (1) jenž použití substituce sin přejde tvaru (2) podle [8] ( ϕ ϕ π d k kK ⋅−⋅ = 2 0 22 sin1 1 . Podle [8] pro výpočet přesností tři čtyři desetinná místa postačí určit úhly po φ3. (2) U symetrické CPW struktury platí pro modul modul kse úplného eliptického integrá- lu vztahy (3) podle [8] 12 ww w ks ⋅+ = , )    ⋅+⋅ ⋅       ⋅ = 12 4 sinh sinh ww h h w kse π π , (3) kde představuje šířku středního vodiče, mezeru mezi středním vodičem zemní plochou rovno výšce substrátu