5. Velikost tvar chladičů bude ještě upravena, jak
z důvodu snížení jejich provozní teploty (snížení tepelného odporu chladiče) tak kvůli
mechanickým rozměrům možnosti implementace zařízení připraveného krytu.6 Měření termokamerou
Měřením pomocí kamery termovizí bylo ověřeno, jak nabíječka (měnič) tepelně
namáhaná. Díky tomu také méně namáhána. Teplota chladiče tranzistoru okolo °C,
teplota chladiče diody °C. Výhodou poměrně přesné určení teploty zaměření nejteplejšího místa (hot
spot), což může odhalit potenciálně přehřívající součástky, špatný kontakt spojů aj.11 Záběr termokamerou horní stranu DPS
.70
Na průběhu diody patrné kromě překmitu zpětné zotavení diody jejím náhlém
uzavření (zde, při jmenovitém zatížení) které tak indikuje, dioda stíhá plně zavřít
a měnič tak pracuje režimu přerušovaného toku.
Z tohoto měření (prováděné při jmenovitém zatížení vyčkání cca 20-30 minut kvůli
tepelné časové konstantě celého zařízení) vyplývá, horní straně desky žádné
součástky nepřehřívají.2.
Součástky deska samotná), které během provozu byly nadměrně tepelně namáhané,
by mohly rychleji degradovat, což vzhledem projektované životnosti nárokům na
spolehlivost zařízení velmi nežádoucí. Součástky největší teplotou jsou odpor členu diod (113 °C),
NTC termistor (90 °C), odpory startovacího obvodu (100 °C) sekci řídicí části také
MOSFET tranzistor Schottkyho diodou.
Obrázek 5
