Měření komplexní permitivity materiálu v mikrovlnném pásmu

| Kategorie: Diplomové, bakalářské práce  | Tento dokument chci!

V této práci jsou popsány vybrané metody měření komplexní permitivity v mikrovlnném pásmu, jejich vlastnosti, výhody i nevýhody. Jsou zde diskutovány důvody jejich možného využití prokonstrukci měřícího pracoviště. Práce dále obsahuje popis zvolené metody využívající dutinový rezonátor, která je vybrána jako metoda nejvhodnější pro realizaci praktického měření. Práce obsahuje popis navrženého měřícího systému, který je simulován v programu HFSSAnsoft. Dále jsou v práci uvedeny výsledky simulací a výpočtů komplexní permitivity a ztrátového činitele. V závěru práce je uveden popis realizovaného pracoviště včetně výsledků měření provedených s vyrobeným rezonátorem.

Strana 60 z 65

Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.

Více info o tomto dokumentu zde!

Jak získat tento dokument?

Poznámky redaktora

00001:1 pom1=tan(x); %iteracni algoritmus pom2=a/x %iteracni algoritmus pom3=pom2-pom1; %iteracni algoritmus pom4=abs(pom3) %iteracni algoritmus if (pom4<0.5*(1+cos(2*X)))/((1/2)*(1- cos(2*Y)))))); %elektricka energie uchovana vzduchu dutine rezonatoru Pcy1=(pi/4)*Rs*(J0^2)*t*R*(kr^4)*(1+(sin(2*X))/(2*X)); %ztraty vodice stenach regionu (oblast vzorku) Pcy2=(pi/2)*Rs*(J0^2)*M*R*(kr^4)*(1-(sin(2*Y))/(2*Y))*((((1/2)*((1+cos(2*X)))/((1/2)*(1-cos(2*Y)))))); %ztraty vodice stenach regionu (oblast dutiny) Pend=(pi/2)*Rs*(j01^2)*(J0^2)*((Y/M)^2)*(((1/2)*(1+cos(2*X)))/((1/2)*(1-cos(2*Y)))); %ztraty vodice koncovych stenach rezonatoru %------vypocet konstant B------- A=1+(W2e/W1e); B=(Pcy1+Pcy2+Pend)/(w*Rs*W1e); .kor_koef =str2num(kor_koef); %prevedni retezce cislo korA input('Zadejte prosim korekcniho koeficient A.: ','s'); %korekcni koeficient pro korekci tan d korA =str2num(korA); %prevedni retezce cislo korB input('Zadejte prosim korekcniho koeficient B.0001) %iteracni algoritmus d=x %iteracni algoritmus break %konec iteracniho algoritmu end end; X=d; ea=((c/(pi*t*f_rez))^2)*((x^2)-(Y^2)*(t/(2*M))^2)+1; %ae aproximovana hodnota permitivity e=ea*(1-(kor_koef)); sigmar=(4*pi*f1*(Quc^2)*((j01^2)+(2*(pi^2))*((D/(2*H))^3))^2)/(sigma0*u0*(c^2)*((j01^2)+(((pi*D)/ (2*H))^2))^3); %relativni vodivost sigma=sigmar*sigma0; Rs=sqrt((pi*f_rez*u)/sigma); %Vysokofrekvencni povrchovy odpor W1e=(pi/8)*(e0*ea*(u0^2)*(w^2)*(j01^2)*(J0^2)*t*(1+((sin(2*X))/(2*X)))); %elektricka energie uchovana vzorku W2e=(pi/4)*e0*(u0^2)*(w^2)*(j01^2)*(J0^2)*M*((1-((sin(2*Y))/(2*Y)))*(((0.01:0.: ','s'); %korekcni koeficient pro korekci tan d korB =str2num(korB); %prevedni retezce cislo %------pomocne vypocty--------- w=2*pi*f_rez; %uhlovy kmitocet J0=besselj(0,j01); %vypocet besselovy funkce prvniho druhu, %nuteho radu pro argument j01 Ql=f_rez/fBW; %vypocet cinitele jakosti dutiny Qu=Ql/(1-10^(S21/20)); %vypocet cinitele jakosti dutiny Y=M*sqrt((k0^2)-(kr^2)); %Vypocet Y %------iteracni vypocet X--------- a=(t/(2*M))*Y*cot(Y); d=0; for 0

---

---