|
Kategorie: Diplomové, bakalářské práce |
Tento dokument chci!
V této práci jsou popsány vybrané metody měření komplexní permitivity v mikrovlnném pásmu, jejich vlastnosti, výhody i nevýhody. Jsou zde diskutovány důvody jejich možného využití prokonstrukci měřícího pracoviště. Práce dále obsahuje popis zvolené metody využívající dutinový rezonátor, která je vybrána jako metoda nejvhodnější pro realizaci praktického měření. Práce obsahuje popis navrženého měřícího systému, který je simulován v programu HFSSAnsoft. Dále jsou v práci uvedeny výsledky simulací a výpočtů komplexní permitivity a ztrátového činitele. V závěru práce je uveden popis realizovaného pracoviště včetně výsledků měření provedených s vyrobeným rezonátorem.
USA: GDK products,
New York 1995. Tokyo: Communications research laboratory. Measurement complex permitivity at
millimeter-wave frequencies with end loaded cavity resonator. Comparison cavity and open-
resonator measurement permitivity and loss angle Ghz.
[6] GORDON KENT.K. SORRENTINO, Accurate and Low Cost Complex
.
[13] FRANTTICCIOLI, DIONIGI.1991., Open resonator for precision dielectric
measurement the 100 GHz band. USA: Electrical
Engineering Department, Colorado State University, Fort Collins, 1991.
[2] ANURAG SRIVASTAVA, OH-JOOHN KWON, ANIRBAN BERA, IN-KEUN BAINK, GUN-
SIK PARK.
[9] VASUNDARA VARADAN, RICHARD HOLLINGER, DEEPAK GHODONKAR,
Free-Space, Broadband Measurements High-Temperature, Complex Dielectric Properties at
Microwave Frequencies. Measurement
of dielectric 100 Ghz with open resonator connected network analyzer.
[7] STOYAN GANCHEV, SASAN BAKHTIARI, REZA ZOUGHI, Novel Numerical
Technique for Dielectric Measurement Generally Lossy Dielectrics., GARETH J. Nondestructive permitivity measurement substrates., MATSUI T.
[8] JERZY KRUPKA, Frequency domain complex permittivity measurements microwave
frequencies.LITERATURA
[1] RAYMOND, J.
[4] HIROMICHI YOSHAÍKAWA, AKIRA NAKAYAMA. Institute Microwaves and Photonics, University Leeds, Leeds, U., ROSENBERG, CH. Universiti
Putra Malaysia and Hewlett Packard, Santa Rosa. England: Electrical science
division, National physical laboratory, 1974.
[3] TAAV, M. Physics Department, Universiti Putra
Malaysia, Serdang. Spain: Departamento de
Comunicaciones, Technical University Valencia, 2001.
[5] KOMIYAMA B. School Electronic and Electrical Engineering, University Leeds, Leeds,
U. Korea: Center for Thz Bio Applicatin Systems, Department of
Physics and Astronomy, Seoul National University., KIYOKAWA M. Department Electronics and Information Technology, Institute of
Microelectronics andOptoelectronics, Warsaw University Technology, Warszawa, Poland. USA: Research center for the engeneering science and mechanics, The
Pennsylvania State university., COOK, R., PERTTI VAINIKAINEN, LOZOWSKI, A.
[11] YOSHIO KOBAYASHI, AKIRA NAKAYAMA, Round Robin Test Cavity Resonance
Method Measure Complex Permittivity Dielectric Plates Microwave Frequency.
[10] ZULKIFLY ABBAS, ROGER POLLARD, FELLOW, ROBERT KELSAL, Complex
Permittivity Measurements Ka-Band Using Rectangular Dielectric Waveguide. Dielectric measurement loss tangent dielectric near 100 Ghz simplified
hemispherical open resonator. Japan: Corporate research and
development center, Kyocera corporation, 2008.K, 2001. IEEE
transactions instrumentation and measurement, 1996.
[12] JOSÉ CATALÁ, ANTONI CÁNOS, FELIPE PENARANDA-FOIX, Accurate
Determination the Complex Permittivity Materials With Transmission Reflection
Measurements Partially Filled Rectangular Waveguides., ANTTI RAISANEN. JAPAN:
Cooperative Research Center, Saitama University, R&D Center Kagoshima Kyocera Corp
