Měření komplexní permitivity materiálu v mikrovlnném pásmu

| Kategorie: Diplomové, bakalářské práce  | Tento dokument chci!

V této práci jsou popsány vybrané metody měření komplexní permitivity v mikrovlnném pásmu, jejich vlastnosti, výhody i nevýhody. Jsou zde diskutovány důvody jejich možného využití prokonstrukci měřícího pracoviště. Práce dále obsahuje popis zvolené metody využívající dutinový rezonátor, která je vybrána jako metoda nejvhodnější pro realizaci praktického měření. Práce obsahuje popis navrženého měřícího systému, který je simulován v programu HFSSAnsoft. Dále jsou v práci uvedeny výsledky simulací a výpočtů komplexní permitivity a ztrátového činitele. V závěru práce je uveden popis realizovaného pracoviště včetně výsledků měření provedených s vyrobeným rezonátorem.

Vydal: FEKT VUT Brno Autor: Radek Polák

Strana 56 z 65

Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.

Jak získat tento dokument?






Poznámky redaktora
Tokyo: Communications research laboratory.LITERATURA [1] RAYMOND, J., PERTTI VAINIKAINEN, LOZOWSKI, A. Spain: Departamento de Comunicaciones, Technical University Valencia, 2001. Measurement of dielectric 100 Ghz with open resonator connected network analyzer., MATSUI T. Universiti Putra Malaysia and Hewlett Packard, Santa Rosa. USA: Electrical Engineering Department, Colorado State University, Fort Collins, 1991., ROSENBERG, CH. Korea: Center for Thz Bio Applicatin Systems, Department of Physics and Astronomy, Seoul National University., Open resonator for precision dielectric measurement the 100 GHz band. USA: GDK products, New York 1995. [8] JERZY KRUPKA, Frequency domain complex permittivity measurements microwave frequencies. [9] VASUNDARA VARADAN, RICHARD HOLLINGER, DEEPAK GHODONKAR, Free-Space, Broadband Measurements High-Temperature, Complex Dielectric Properties at Microwave Frequencies. [3] TAAV, M. [11] YOSHIO KOBAYASHI, AKIRA NAKAYAMA, Round Robin Test Cavity Resonance Method Measure Complex Permittivity Dielectric Plates Microwave Frequency., COOK, R., ANTTI RAISANEN. [13] FRANTTICCIOLI, DIONIGI. Department Electronics and Information Technology, Institute of Microelectronics andOptoelectronics, Warsaw University Technology, Warszawa, Poland. Institute Microwaves and Photonics, University Leeds, Leeds, U. SORRENTINO, Accurate and Low Cost Complex .1991. [12] JOSÉ CATALÁ, ANTONI CÁNOS, FELIPE PENARANDA-FOIX, Accurate Determination the Complex Permittivity Materials With Transmission Reflection Measurements Partially Filled Rectangular Waveguides. [7] STOYAN GANCHEV, SASAN BAKHTIARI, REZA ZOUGHI, Novel Numerical Technique for Dielectric Measurement Generally Lossy Dielectrics. [10] ZULKIFLY ABBAS, ROGER POLLARD, FELLOW, ROBERT KELSAL, Complex Permittivity Measurements Ka-Band Using Rectangular Dielectric Waveguide. JAPAN: Cooperative Research Center, Saitama University, R&D Center Kagoshima Kyocera Corp. [6] GORDON KENT. [5] KOMIYAMA B. Physics Department, Universiti Putra Malaysia, Serdang., GARETH J., KIYOKAWA M. Japan: Corporate research and development center, Kyocera corporation, 2008. USA: Research center for the engeneering science and mechanics, The Pennsylvania State university. Measurement complex permitivity at millimeter-wave frequencies with end loaded cavity resonator. Nondestructive permitivity measurement substrates. IEEE transactions instrumentation and measurement, 1996. Comparison cavity and open- resonator measurement permitivity and loss angle Ghz. [2] ANURAG SRIVASTAVA, OH-JOOHN KWON, ANIRBAN BERA, IN-KEUN BAINK, GUN- SIK PARK.K, 2001. [4] HIROMICHI YOSHAÍKAWA, AKIRA NAKAYAMA.K. School Electronic and Electrical Engineering, University Leeds, Leeds, U. England: Electrical science division, National physical laboratory, 1974. Dielectric measurement loss tangent dielectric near 100 Ghz simplified hemispherical open resonator