|
Kategorie: Diplomové, bakalářské práce |
Tento dokument chci!
V této práci jsou popsány vybrané metody měření komplexní permitivity v mikrovlnném pásmu, jejich vlastnosti, výhody i nevýhody. Jsou zde diskutovány důvody jejich možného využití prokonstrukci měřícího pracoviště. Práce dále obsahuje popis zvolené metody využívající dutinový rezonátor, která je vybrána jako metoda nejvhodnější pro realizaci praktického měření. Práce obsahuje popis navrženého měřícího systému, který je simulován v programu HFSSAnsoft. Dále jsou v práci uvedeny výsledky simulací a výpočtů komplexní permitivity a ztrátového činitele. V závěru práce je uveden popis realizovaného pracoviště včetně výsledků měření provedených s vyrobeným rezonátorem.
USA: Electrical
Engineering Department, Colorado State University, Fort Collins, 1991., MATSUI T. Department Electronics and Information Technology, Institute of
Microelectronics andOptoelectronics, Warsaw University Technology, Warszawa, Poland. USA: Research center for the engeneering science and mechanics, The
Pennsylvania State university.
[12] JOSÉ CATALÁ, ANTONI CÁNOS, FELIPE PENARANDA-FOIX, Accurate
Determination the Complex Permittivity Materials With Transmission Reflection
Measurements Partially Filled Rectangular Waveguides., ANTTI RAISANEN.
[10] ZULKIFLY ABBAS, ROGER POLLARD, FELLOW, ROBERT KELSAL, Complex
Permittivity Measurements Ka-Band Using Rectangular Dielectric Waveguide.
[13] FRANTTICCIOLI, DIONIGI. Physics Department, Universiti Putra
Malaysia, Serdang. Spain: Departamento de
Comunicaciones, Technical University Valencia, 2001.LITERATURA
[1] RAYMOND, J., PERTTI VAINIKAINEN, LOZOWSKI, A. Measurement
of dielectric 100 Ghz with open resonator connected network analyzer. England: Electrical science
division, National physical laboratory, 1974., Open resonator for precision dielectric
measurement the 100 GHz band., COOK, R.
[2] ANURAG SRIVASTAVA, OH-JOOHN KWON, ANIRBAN BERA, IN-KEUN BAINK, GUN-
SIK PARK., ROSENBERG, CH. JAPAN:
Cooperative Research Center, Saitama University, R&D Center Kagoshima Kyocera Corp.
[6] GORDON KENT., KIYOKAWA M.1991.
[11] YOSHIO KOBAYASHI, AKIRA NAKAYAMA, Round Robin Test Cavity Resonance
Method Measure Complex Permittivity Dielectric Plates Microwave Frequency., GARETH J. Japan: Corporate research and
development center, Kyocera corporation, 2008. SORRENTINO, Accurate and Low Cost Complex
.
[4] HIROMICHI YOSHAÍKAWA, AKIRA NAKAYAMA.
[8] JERZY KRUPKA, Frequency domain complex permittivity measurements microwave
frequencies. Institute Microwaves and Photonics, University Leeds, Leeds, U.
[7] STOYAN GANCHEV, SASAN BAKHTIARI, REZA ZOUGHI, Novel Numerical
Technique for Dielectric Measurement Generally Lossy Dielectrics.K.
[9] VASUNDARA VARADAN, RICHARD HOLLINGER, DEEPAK GHODONKAR,
Free-Space, Broadband Measurements High-Temperature, Complex Dielectric Properties at
Microwave Frequencies. Comparison cavity and open-
resonator measurement permitivity and loss angle Ghz.K, 2001.
[3] TAAV, M. Universiti
Putra Malaysia and Hewlett Packard, Santa Rosa. IEEE
transactions instrumentation and measurement, 1996. Korea: Center for Thz Bio Applicatin Systems, Department of
Physics and Astronomy, Seoul National University. Tokyo: Communications research laboratory.
[5] KOMIYAMA B. Dielectric measurement loss tangent dielectric near 100 Ghz simplified
hemispherical open resonator. School Electronic and Electrical Engineering, University Leeds, Leeds,
U. Nondestructive permitivity measurement substrates. Measurement complex permitivity at
millimeter-wave frequencies with end loaded cavity resonator. USA: GDK products,
New York 1995
