|
Kategorie: Diplomové, bakalářské práce |
Tento dokument chci!
V této práci jsou popsány vybrané metody měření komplexní permitivity v mikrovlnném pásmu, jejich vlastnosti, výhody i nevýhody. Jsou zde diskutovány důvody jejich možného využití prokonstrukci měřícího pracoviště. Práce dále obsahuje popis zvolené metody využívající dutinový rezonátor, která je vybrána jako metoda nejvhodnější pro realizaci praktického měření. Práce obsahuje popis navrženého měřícího systému, který je simulován v programu HFSSAnsoft. Dále jsou v práci uvedeny výsledky simulací a výpočtů komplexní permitivity a ztrátového činitele. V závěru práce je uveden popis realizovaného pracoviště včetně výsledků měření provedených s vyrobeným rezonátorem.
Japan: Corporate research and
development center, Kyocera corporation, 2008., GARETH J.
[4] HIROMICHI YOSHAÍKAWA, AKIRA NAKAYAMA., PERTTI VAINIKAINEN, LOZOWSKI, A. Physics Department, Universiti Putra
Malaysia, Serdang., KIYOKAWA M., Open resonator for precision dielectric
measurement the 100 GHz band. SORRENTINO, Accurate and Low Cost Complex
., ROSENBERG, CH. Universiti
Putra Malaysia and Hewlett Packard, Santa Rosa., COOK, R. Measurement
of dielectric 100 Ghz with open resonator connected network analyzer. Dielectric measurement loss tangent dielectric near 100 Ghz simplified
hemispherical open resonator. Measurement complex permitivity at
millimeter-wave frequencies with end loaded cavity resonator.
[13] FRANTTICCIOLI, DIONIGI.
[7] STOYAN GANCHEV, SASAN BAKHTIARI, REZA ZOUGHI, Novel Numerical
Technique for Dielectric Measurement Generally Lossy Dielectrics. Tokyo: Communications research laboratory. Department Electronics and Information Technology, Institute of
Microelectronics andOptoelectronics, Warsaw University Technology, Warszawa, Poland.
[6] GORDON KENT.
[10] ZULKIFLY ABBAS, ROGER POLLARD, FELLOW, ROBERT KELSAL, Complex
Permittivity Measurements Ka-Band Using Rectangular Dielectric Waveguide. England: Electrical science
division, National physical laboratory, 1974. Nondestructive permitivity measurement substrates.LITERATURA
[1] RAYMOND, J., MATSUI T. USA: GDK products,
New York 1995.
[11] YOSHIO KOBAYASHI, AKIRA NAKAYAMA, Round Robin Test Cavity Resonance
Method Measure Complex Permittivity Dielectric Plates Microwave Frequency. USA: Electrical
Engineering Department, Colorado State University, Fort Collins, 1991. IEEE
transactions instrumentation and measurement, 1996.
[2] ANURAG SRIVASTAVA, OH-JOOHN KWON, ANIRBAN BERA, IN-KEUN BAINK, GUN-
SIK PARK. Institute Microwaves and Photonics, University Leeds, Leeds, U.
[12] JOSÉ CATALÁ, ANTONI CÁNOS, FELIPE PENARANDA-FOIX, Accurate
Determination the Complex Permittivity Materials With Transmission Reflection
Measurements Partially Filled Rectangular Waveguides.K. Spain: Departamento de
Comunicaciones, Technical University Valencia, 2001.
[9] VASUNDARA VARADAN, RICHARD HOLLINGER, DEEPAK GHODONKAR,
Free-Space, Broadband Measurements High-Temperature, Complex Dielectric Properties at
Microwave Frequencies. Korea: Center for Thz Bio Applicatin Systems, Department of
Physics and Astronomy, Seoul National University.
[3] TAAV, M.
[5] KOMIYAMA B. USA: Research center for the engeneering science and mechanics, The
Pennsylvania State university. JAPAN:
Cooperative Research Center, Saitama University, R&D Center Kagoshima Kyocera Corp.
[8] JERZY KRUPKA, Frequency domain complex permittivity measurements microwave
frequencies. School Electronic and Electrical Engineering, University Leeds, Leeds,
U.K, 2001.1991., ANTTI RAISANEN. Comparison cavity and open-
resonator measurement permitivity and loss angle Ghz
