|
Kategorie: Diplomové, bakalářské práce |
Tento dokument chci!
V této práci jsou popsány vybrané metody měření komplexní permitivity v mikrovlnném pásmu, jejich vlastnosti, výhody i nevýhody. Jsou zde diskutovány důvody jejich možného využití prokonstrukci měřícího pracoviště. Práce dále obsahuje popis zvolené metody využívající dutinový rezonátor, která je vybrána jako metoda nejvhodnější pro realizaci praktického měření. Práce obsahuje popis navrženého měřícího systému, který je simulován v programu HFSSAnsoft. Dále jsou v práci uvedeny výsledky simulací a výpočtů komplexní permitivity a ztrátového činitele. V závěru práce je uveden popis realizovaného pracoviště včetně výsledků měření provedených s vyrobeným rezonátorem.
USA: Research center for the engeneering science and mechanics, The
Pennsylvania State university.
[11] YOSHIO KOBAYASHI, AKIRA NAKAYAMA, Round Robin Test Cavity Resonance
Method Measure Complex Permittivity Dielectric Plates Microwave Frequency.
[6] GORDON KENT. Measurement complex permitivity at
millimeter-wave frequencies with end loaded cavity resonator., KIYOKAWA M. Universiti
Putra Malaysia and Hewlett Packard, Santa Rosa., ROSENBERG, CH. IEEE
transactions instrumentation and measurement, 1996.
[10] ZULKIFLY ABBAS, ROGER POLLARD, FELLOW, ROBERT KELSAL, Complex
Permittivity Measurements Ka-Band Using Rectangular Dielectric Waveguide.K, 2001.
[7] STOYAN GANCHEV, SASAN BAKHTIARI, REZA ZOUGHI, Novel Numerical
Technique for Dielectric Measurement Generally Lossy Dielectrics. School Electronic and Electrical Engineering, University Leeds, Leeds,
U.
[12] JOSÉ CATALÁ, ANTONI CÁNOS, FELIPE PENARANDA-FOIX, Accurate
Determination the Complex Permittivity Materials With Transmission Reflection
Measurements Partially Filled Rectangular Waveguides., PERTTI VAINIKAINEN, LOZOWSKI, A.
[13] FRANTTICCIOLI, DIONIGI.
[9] VASUNDARA VARADAN, RICHARD HOLLINGER, DEEPAK GHODONKAR,
Free-Space, Broadband Measurements High-Temperature, Complex Dielectric Properties at
Microwave Frequencies. Japan: Corporate research and
development center, Kyocera corporation, 2008. Department Electronics and Information Technology, Institute of
Microelectronics andOptoelectronics, Warsaw University Technology, Warszawa, Poland. England: Electrical science
division, National physical laboratory, 1974., MATSUI T., COOK, R. Korea: Center for Thz Bio Applicatin Systems, Department of
Physics and Astronomy, Seoul National University.
[5] KOMIYAMA B.
[3] TAAV, M. USA: Electrical
Engineering Department, Colorado State University, Fort Collins, 1991. Spain: Departamento de
Comunicaciones, Technical University Valencia, 2001.
[4] HIROMICHI YOSHAÍKAWA, AKIRA NAKAYAMA. JAPAN:
Cooperative Research Center, Saitama University, R&D Center Kagoshima Kyocera Corp. Physics Department, Universiti Putra
Malaysia, Serdang. Dielectric measurement loss tangent dielectric near 100 Ghz simplified
hemispherical open resonator.
[8] JERZY KRUPKA, Frequency domain complex permittivity measurements microwave
frequencies. Institute Microwaves and Photonics, University Leeds, Leeds, U. SORRENTINO, Accurate and Low Cost Complex
. Tokyo: Communications research laboratory.K. Nondestructive permitivity measurement substrates.1991., ANTTI RAISANEN. Comparison cavity and open-
resonator measurement permitivity and loss angle Ghz. Measurement
of dielectric 100 Ghz with open resonator connected network analyzer., GARETH J. USA: GDK products,
New York 1995., Open resonator for precision dielectric
measurement the 100 GHz band.
[2] ANURAG SRIVASTAVA, OH-JOOHN KWON, ANIRBAN BERA, IN-KEUN BAINK, GUN-
SIK PARK.LITERATURA
[1] RAYMOND, J
