Měření komplexní permitivity materiálu v mikrovlnném pásmu

| Kategorie: Diplomové, bakalářské práce  | Tento dokument chci!

V této práci jsou popsány vybrané metody měření komplexní permitivity v mikrovlnném pásmu, jejich vlastnosti, výhody i nevýhody. Jsou zde diskutovány důvody jejich možného využití prokonstrukci měřícího pracoviště. Práce dále obsahuje popis zvolené metody využívající dutinový rezonátor, která je vybrána jako metoda nejvhodnější pro realizaci praktického měření. Práce obsahuje popis navrženého měřícího systému, který je simulován v programu HFSSAnsoft. Dále jsou v práci uvedeny výsledky simulací a výpočtů komplexní permitivity a ztrátového činitele. V závěru práce je uveden popis realizovaného pracoviště včetně výsledků měření provedených s vyrobeným rezonátorem.

Vydal: FEKT VUT Brno Autor: Radek Polák

Strana 13 z 65

Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.

Jak získat tento dokument?






Poznámky redaktora
1.1 Měření pomocí válcového rezonátoru obsahujícího měřený materiál středu dutiny Rezonátor vyroben kruhového vlnovodu. 1. možné využít jiných vidů TMmnp, pokud dokážeme identifikovat případě, že se tyto vidy nepřekrývají sousedními. reálná část komplexní permitivity. 10 . těchto parametrů lze vypočítat ε´a tan Kde tan ztrátový činitel. Využívá vidu TE011 a TM011. Metody využívající dutinový rezonátor Tyto metody jsou velmi přesné. Rezonanční metody využívají úseky rezonátorů otevřené rezonátory.1 Rezonanční metody Rezonanční metody jsou vhodné pro měření nízkoztrátových materiálů. Rezonátor buzen dle [11] smyčkou konci koaxiálního vlnovodu. Rezonátory bývají vyrobeny částí kruhových vlnovodů.1. Jsou zde popsány hlavní principy těchto metod jejich možnosti.1. Tan δ<<1.PŘEHLED METOD K hodnocení dielektrických vlastností materiálů bylo vyvinuto mnoho metod, které sebe velmi liší technickým provedením kvalitativními parametry. Metoda popsána článku [6] [11]. Měřený materiál umístěn jeho středu. Měřenými veličinami jsou zde rezonanční frekvence Q-faktor, měřené rezonančních kmitočtech při vybuzení jednotlivých vidů.1. 1. Podle [1] přesnost těchto metod téměř neliší. Touto metodou možné měřit chybovostí pod Rezonátor nachází obr. Měřený vzorek formě tenkých plátů vkládá mezi poloviny rezonátoru nebo mezi rezonátor jednu jeho stěnu. Matematickými postupy výpočtů dielektrických vlastností tato kapitola nezabývá. Jde o úzkopásmovou metodu, pomocí které možné měřit vlastnosti materiálů diskrétních kmitočtech rovných rezonančním kmitočtům vybuzených vidů. 1. Permitivitu materiálu možné vypočítat ze změřených hodnot rezonanční frekvence, vložných ztrát při rezonanci šířky pásma společně tloušťkou vzorku, ztrát dutiny rozměrů dutiny.1