|
Kategorie: Diplomové, bakalářské práce |
Tento dokument chci!
V této práci jsou popsány vybrané metody měření komplexní permitivity v mikrovlnném pásmu, jejich vlastnosti, výhody i nevýhody. Jsou zde diskutovány důvody jejich možného využití prokonstrukci měřícího pracoviště. Práce dále obsahuje popis zvolené metody využívající dutinový rezonátor, která je vybrána jako metoda nejvhodnější pro realizaci praktického měření. Práce obsahuje popis navrženého měřícího systému, který je simulován v programu HFSSAnsoft. Dále jsou v práci uvedeny výsledky simulací a výpočtů komplexní permitivity a ztrátového činitele. V závěru práce je uveden popis realizovaného pracoviště včetně výsledků měření provedených s vyrobeným rezonátorem.
Metody využívající dutinový rezonátor
Tyto metody jsou velmi přesné. Matematickými postupy výpočtů dielektrických
vlastností tato kapitola nezabývá.
1. Tan δ<<1. Rezonátory bývají vyrobeny částí kruhových vlnovodů.
1. Měřenými veličinami
jsou zde rezonanční frekvence Q-faktor, měřené rezonančních kmitočtech při vybuzení
jednotlivých vidů. Využívá vidu TE011 a
TM011. Rezonátor buzen dle [11] smyčkou konci
koaxiálního vlnovodu.1.1 Měření pomocí válcového rezonátoru obsahujícího měřený materiál středu
dutiny
Rezonátor vyroben kruhového vlnovodu. Jsou zde popsány hlavní
principy těchto metod jejich možnosti. reálná část komplexní permitivity. Permitivitu materiálu možné vypočítat ze
změřených hodnot rezonanční frekvence, vložných ztrát při rezonanci šířky pásma
společně tloušťkou vzorku, ztrát dutiny rozměrů dutiny.1. možné využít jiných vidů TMmnp, pokud dokážeme identifikovat případě, že
se tyto vidy nepřekrývají sousedními.
1. těchto parametrů lze vypočítat
ε´a tan Kde tan ztrátový činitel.
Metoda popsána článku [6] [11].PŘEHLED METOD
K hodnocení dielektrických vlastností materiálů bylo vyvinuto mnoho metod, které sebe
velmi liší technickým provedením kvalitativními parametry.1 Rezonanční metody
Rezonanční metody jsou vhodné pro měření nízkoztrátových materiálů.
Touto metodou možné měřit chybovostí pod Rezonátor nachází obr. 1.
Měřený vzorek formě tenkých plátů vkládá mezi poloviny rezonátoru nebo mezi
rezonátor jednu jeho stěnu.1. Měřený materiál umístěn jeho středu.
10
.1. Jde o
úzkopásmovou metodu, pomocí které možné měřit vlastnosti materiálů diskrétních
kmitočtech rovných rezonančním kmitočtům vybuzených vidů. Rezonanční metody využívají úseky rezonátorů otevřené rezonátory.
Podle [1] přesnost těchto metod téměř neliší
