Ukázka skript Elektrotechnická měření - pracovní sešit pro třetí ročník
KONTROLA A CEJCHOVÁNÍ MĚŘÍCÍCH PŘÍSTROJŮ
- Kontrola spočívá ve stanovení chyby kontrolované stupnice.
- Cejchování spočívá v nakreslení nové stupnice, přičemž měrné body vynášíme podle
normálového přístroje.
Při kontrole postupujeme tak, že celé dílky nastavujeme na kontrolovaném přístroji a
na přesném přístroji odečítáme správný údaj.
Používáme ten druh proudu pro který je přístroj určen.
1) Kontrola voltmetru
Výpočty:
absolutní chyba:
Ap=
N- naměřená hodnota
(hodnota na kontrolovaném přístroji)
S- skutečná hodnota
(hodnota na přesném přístroji)
korekce:
K=
relativní chyba:
ÓRM =
M= měřící rozsah
Třídu přesnosti určíme tak, že zjištěnou největší relativní chybu zaokrouhlíme na
nejbližší vyšší hodnotu tříd přesnosti stanovených normou z řady 0,1; 0,2; 0,5; 1; 1,5;
2,5; 5. Korekční křivka- závislost K= f (a)
Jediná křivka jejíž body spojujeme přímkami (neprokládáme)
Příklad tabulky:
Kontrolovaný voltmetr přesný voltmetr ...
Autor: Střední průmyslová škola a Vyšší odborná škola, Chomutov
Strana 59 z 125
Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.
Měření charakteristik bipolárního tranzistoru
19. Měření výkonu metodou dvou wattmetrů
13. Měření kapacity Ohmovou metodou Scheringovým můstkem
11. Měření odporů Wheatstonovým můstkem
5. Měření jalového výkonu Gorgessovým můstkem
14. Měření indukčnosti kapacity rezonanční metodou
10. Měření logických obvodech TTL I
22. Měření jednofázovém transformátoru I
12. Měření charakteristik fotoel. Měření charakteristik tranzistoru MOSFET
20.A3PRAKTICKÁ MĚŘENÍ SEZNAM ÚLOH školní rok 2012/2013
ÚLOHA REFERÁTY
1. Měření logických obvodech TTL II
23. Měření odporů Thomsonovým můstkem
6. Absolvování přezkoušení podmínkou klasifikace. Měření charakteristik doby zotavení polovodičových diod
17. Měření vlastní vzájemné indukčnosti Ohmovou metodou
7. Kontrola cejchování V,A W
2. Měření odporů Ohmovou metodou
3. Měření idukčnosti jádrem V,A W
8. Měření odporů srovnávací metodou substituční metodou
4. Měření ztrát železe Epsteinovým přístrojem
16. Základní měření osciloskopem
9. součástek
24. Měření statických dynamických parametrů optočlenu
21. Měření charakteristiky diaku její zobrazení osciloskopu
18.
. Měření jednofázovém transformátoru II
15. Měření vlastností tranzistoru MOSFET
Během školního roku budou provedena praktická přezkoušení vždy po
naměření úloh
