Učební text obsahuje návody k laboratorním cvičením z předmětu Impulzová a číslicová technika. Ke každé laboratorní úloze je uveden stručný teoretický rozbor, přesné znění zadání, schéma zapojení přípravku s komentářem a podrobné pokyny k realizaci měření. Pro kontrolu domácí přípravy studenta k laboratornímu cvičení slouží kontrolní otázky. Připravené formuláře protokolů mají studentům usnadnit zpracování zprávy o měření. V úvodní části skript jsou shrnuty organizační pokyny definující časový plán cvičení i požadavky kladené na studenty ve cvičení. Poslední kapitoly mají obecnější charakter a vysvětlují některé pojmy a souvislosti, které studentu poslouží nejen v konkrétním laboratorním cvičení.
Vydal: FEKT VUT Brno
Autor: UREL - Viera Biolková, Ivana Jakubová, Jaromír Kolouch
Strana 114 z 122
Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.
Příklady ošetření nepoužitých vstupů
Vstupy, nichž být napětí úrovně lze obvodů TTL CMOS prostě uzemnit.
Obr. Zde nutno zdůraznit, zapojení jsou ekvivalentní pouze hlediska
logické funkce, nikoli však např. rozkmitání obvodu často obtížně identifikovatelnými chybami ve
funkci celého zapojení).
Jak vidět Obr. Proto třeba dbát, aby vstupní napětí nespadalo této oblasti, respektive
aby při změně nebo překonalo nejrychleji.8, jinou variantu ošetření nepoužitých vstupů představuje paralelní
spojení vstupy použitými. Obr.
Podrobněji bude tento problém osvětlen kapitole Číslicový sekvenční systém. To
je splněno obvodů TTL ALS, nikoli však starších obvodů TTL STD (UCCmax ale UImax
pouze 5,5 V). 12. Rozdíl mezi hraničními úrovněmi vstupu výstupu tedy definuje tzv. 12.8 jsou uvedeny
některé elementární příklady ošetření nepoužitých vstupů (dvouvstupové členy NAND NOR
využité jako invertor).8.
Povšimněme ještě zakázané oblasti mezi UILmax UIHmin okolí prahového napětí UIT ≈
1,3 Jak studenti ověří měřením laboratoři, při tomto napětí mění stav obvodu, což je
doprovázeno jednak markantním vzrůstem odběru napájecího zdroje, jednak zvýšeným rizikem
nespolehlivé funkce (např. šumovou
imunitu úrovni (nejmenší zaručená odolnost proti rušení úrovni L): UILmax UOLmax, a
šumovou imunitu úrovni (nejmenší zaručená odolnost proti rušení úrovni H): UOHmin UIHmin. Tato otázka bude
diskutována následující kapitole.114
funkci zapojení. invertor místo hradla
NAND). důvodem, proč vstupní signály
pro zpracování číslicovými obvody musejí mít nejen vhodné napěťové úrovně, ale dostatečně
strmé hrany (výrobce doporučuje pro řadu ALS, aby doba hrany byla maximálně 100 ns). hlediska zatížení výstupu předchozího obvodu.
V praxi často setkáváme situací, potřebujeme pro konkrétní zapojení pouze některé
vstupy logického obvodu buď proto, nevyužíváme všechny členy pouzdře integrovaného
obvodu, nebo proto, potřebujeme člen menším počtem vstupů (např.
. Také tomto případě vzniká nebezpečí, nevyužitých vstupech ustálí napětí
spadající zakázané oblasti. zapojeních TTL STD bylo proto nutno ochránit vstup před případným příliš
vysokým napětím rezistorem odporem takové hodnoty, aby ani při zvýšení napájecího napětí na
mezní hodnotu UCCmax nemohlo dojít poškození vstupu, ale aby současně ani při minimální
doporučené hodnotě napájecího napětí nepokleslo vstupní napětí pod hodnotu UIHmin (obvyklá
hodnota 4,7 kΩ). 12. Vstupy,
na nichž být napětí úrovně možné připojit přímo napájecí napětí pouze případě, že
mezní hodnota UImax vstupního napětí obvodu není nižší než mezní hodnota napětí napájecího. Proto nutné tyto nevyužité vstupy vždy ošetřit, tedy připojit na
napětí takové definované úrovně, která zaručí správnou funkci zapojení
