V této úvodní kapitole se pokusíme nastínit některé metodologické aspekty stavby fyziky a jejího začlenění do kontextu ostatní přírodovědy a vědeckého poznání vůbec. Tyto metodologické poznámky mohou být zajímavé např. pro studenty a zájemce nefyzikálních profesí, kteří si chtějí udělat ucelený obraz o fyzikálních aspektech zkoumání přírody.
Vojtěch Ullmann: Detekce aplikace ionizujícího záření
Pozitronová anihilační spektrometrie
Pozitronová anihilační spektrometrie slouží analýze lokálních elektronových hustot konfigurací
v látkách.
Typické uspořádání zdroje
záření, analyzovaného
předmětu detektoru při
rentgen-fluorescenční analýze. Zkoumaný materiál lokálně ozařuje smíšeným β+− zářičem (nejčastěji
22Na), přičemž doba života pozitronů stanovuje základě měření zpožděných koincidencí
mezi detekcí fotonu záření ozařujícího radionuklidu 22Na 1274 keV) detekcí
anihilačního fotonu 511keV. Měřený
vzorek ozařujeme buď X-zářením rentgenové lampy, nebo zářením gama vhodného
radionuklidu (obr. Radiační analytické metody materiálů
Rentgen-fluorescenční analýza
Tato metoda nedestruktivního zjišťování složení látek založena měření
charakteristického rentgenového záření vzbuzeného ozařováním zkoumaného vzorku.
Obr. Dojde-li fotoefektu slupce L,
pak přeskokem elektronů slupky vyzařováno charakteristické X-záření série L.
http://astronuklfyzika.6 "Ionizující záření") většinou slupce K
(pokud energie záření vyšší než vazbová energie elektronu této slupce), načež při přeskoku
elektronů vyšší slupky (L) uvolněné místo dochází emisi charakteristického X-záření (série K),
jehož energie jednoznačně určena protonovým číslem atomu.3. precipitáty.4.10.4. Interakcí tohoto fotonového záření atomy zkoumaného vzorku dochází
k fotoefektu (viz pasáž "Interakce záření gama §1.3.
Spektrometrickou analýzou energie (vlnové délky) takto vzniklého fluorescenčního záření lze zjistit,
které prvky jsou přítomné zkoumaném vzorku podle intenzity jednotlivých píků
fluorescenčního záření lze určit množství (koncentraci) těchto prvků vzorku.
Energie primárního budícího záření nebo nejvhodnější jen něco vyšší než vazbová elektronů
na slupce (popř.cz/JadRadMetody. Využívá se
při sledování technologie přípravy různých materiálů (umělé hmoty, kovy, vodiče, izolanty, polovodiče)
a též při sledování vlivu prostředí technologií materiály (únava "stárnutí" materiálů, teplotní
a radiační vlivy pod.1).htm (22 49) [15. atomech analyzovaných prvků; tehdy nejvyšší účinný průřez pro fotoefekt. Touto metodou možné pozorovat defekty struktury materiálu o
velikosti cca 0,1 1nm dislokace, vakance, shluky vakancí, klastery, popř.
3.RNDr.
Vpravo nahoře detailní
struktura píků Kα,β
charakteristického X-záření,
změřená polovodičovým Ge(Li)
detektorem. založena spektrometrickém měření doby života pozitronů látce (PLS Positron
Lifetime Spectroscopy).1.4.).2008 12:14:48]
