V této úvodní kapitole se pokusíme nastínit některé metodologické aspekty stavby fyziky a jejího začlenění do kontextu ostatní přírodovědy a vědeckého poznání vůbec. Tyto metodologické poznámky mohou být zajímavé např. pro studenty a zájemce nefyzikálních profesí, kteří si chtějí udělat ucelený obraz o fyzikálních aspektech zkoumání přírody.
atomech analyzovaných prvků; tehdy nejvyšší účinný průřez pro fotoefekt. Měřený
vzorek ozařujeme buď X-zářením rentgenové lampy, nebo zářením gama vhodného
radionuklidu (obr.htm (22 49) [15. Zkoumaný materiál lokálně ozařuje smíšeným β+− zářičem (nejčastěji
22Na), přičemž doba života pozitronů stanovuje základě měření zpožděných koincidencí
mezi detekcí fotonu záření ozařujícího radionuklidu 22Na 1274 keV) detekcí
anihilačního fotonu 511keV.4. Využívá se
při sledování technologie přípravy různých materiálů (umělé hmoty, kovy, vodiče, izolanty, polovodiče)
a též při sledování vlivu prostředí technologií materiály (únava "stárnutí" materiálů, teplotní
a radiační vlivy pod.
3.3.
http://astronuklfyzika. Touto metodou možné pozorovat defekty struktury materiálu o
velikosti cca 0,1 1nm dislokace, vakance, shluky vakancí, klastery, popř. založena spektrometrickém měření doby života pozitronů látce (PLS Positron
Lifetime Spectroscopy).1.
Obr.
Energie primárního budícího záření nebo nejvhodnější jen něco vyšší než vazbová elektronů
na slupce (popř.10.3.).1). Radiační analytické metody materiálů
Rentgen-fluorescenční analýza
Tato metoda nedestruktivního zjišťování složení látek založena měření
charakteristického rentgenového záření vzbuzeného ozařováním zkoumaného vzorku. Dojde-li fotoefektu slupce L,
pak přeskokem elektronů slupky vyzařováno charakteristické X-záření série L.2008 12:14:48]
. Vojtěch Ullmann: Detekce aplikace ionizujícího záření
Pozitronová anihilační spektrometrie
Pozitronová anihilační spektrometrie slouží analýze lokálních elektronových hustot konfigurací
v látkách.
Typické uspořádání zdroje
záření, analyzovaného
předmětu detektoru při
rentgen-fluorescenční analýze.
Vpravo nahoře detailní
struktura píků Kα,β
charakteristického X-záření,
změřená polovodičovým Ge(Li)
detektorem.
Spektrometrickou analýzou energie (vlnové délky) takto vzniklého fluorescenčního záření lze zjistit,
které prvky jsou přítomné zkoumaném vzorku podle intenzity jednotlivých píků
fluorescenčního záření lze určit množství (koncentraci) těchto prvků vzorku.4. precipitáty.RNDr.6 "Ionizující záření") většinou slupce K
(pokud energie záření vyšší než vazbová energie elektronu této slupce), načež při přeskoku
elektronů vyšší slupky (L) uvolněné místo dochází emisi charakteristického X-záření (série K),
jehož energie jednoznačně určena protonovým číslem atomu. Interakcí tohoto fotonového záření atomy zkoumaného vzorku dochází
k fotoefektu (viz pasáž "Interakce záření gama §1.4.cz/JadRadMetody
