Tak ako v priebehu historického vývoja, tak aj v dnešnej dobe meranie úzko súvisí
s rozvojom vedy a techniky. Pokrok v technike (nové technológie, nové materiály, elektronika,
mikroelektronika, výpočtová technika) umožňuje zdokonaľovať meranie – meracie prístroje,
meracie metódy a spôsoby spracovania nameraných hodnôt . Dokonalejšie meranie umožňuje
objektívnejšie, presnejšie získavať údaje o objektoch a javoch, čo umožňuje spätne zvyšovať
úroveň techniky a overovať vedecké hypotézy. Rozvoj techniky a vedecký pokrok teda úzko súvisí
s meraním.
Autor: Doc. Ing. Miroslav Mojžiš, CSc
Strana 30 z 71
Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.
tejto požiadavky vyplynulo tretinové odstupňovanie rozsahov analógových meracích
prístrojov (100; 30; 10; .30
Kde maximálna hodnota rozsahu. Maximálna dovolená relatívna chyba jednotlivého merania
bude )
(5. Vidíme, nameraná hodnota blíži nule, maximálne prípustná
relatívna chyba bude vzrastať teoreticky nekonečna. Stanovenie presnosti merania vyhodnotením nameraných hodnôt
100mxx ⋅
∆
=
x
xmx
δ
x
xr
mx mx2mx1 δδδ +=
⋅
∂
∂
+⋅
∂
∂
= z
z
f
y
y
f
x
mxzmxymxx
1
δδδ
.2).
Pri viacerých meracích prístrojoch, merajúcich fyzikálnu veličinu nepriamo maximálne
prípustná relatívna chyba určí vzťahu
(5.2. Potom druhý člen vzťahu (5.
5. Meranie blízkosti nuly preto nemá
zmysel.)
Pri číslicových meracích prístrojoch presnosť určená vzťahom pre maximálne prípustnú
relatívnu chybu
(5. Maximálne relatívne
chyby meraných veličín mxyδ mxzδ určia podľa vzťahu (5.3) zväčší skoro desaťkrát úsudok, malé
hodnoty mx1δ mx2δ zaručujú veľkú presnosť merania bude falošný.2)
kde nameraná hodnota.. chyba rozsahu, hodnota rozsahu nameraná hodnota. Ako ešte prípustná bola stanovená trojnásobná relatívna chyba porovnaní triedou
presnosti..2.3)
kde mx1δ tzv. Nakoľko stupnica
číslicového prístroja dekadickej číselnej sústave prístroj niektorých prípadoch aj
dekadické odstupňovanie rozsahov, takom prípade môže stať, sme nútení merať blízkosti
desatiny rozsahu. chyba údaja a
mx2δ tzv.4)
kde sledovaná hodnota závisí nameraných veličín teda f(y,z)
