ČÍSLICOVÉ MERANIE Prednasky

| Kategorie: Skripta  | Tento dokument chci!

Tak ako v priebehu historického vývoja, tak aj v dnešnej dobe meranie úzko súvisí s rozvojom vedy a techniky. Pokrok v technike (nové technológie, nové materiály, elektronika, mikroelektronika, výpočtová technika) umožňuje zdokonaľovať meranie – meracie prístroje, meracie metódy a spôsoby spracovania nameraných hodnôt . Dokonalejšie meranie umožňuje objektívnejšie, presnejšie získavať údaje o objektoch a javoch, čo umožňuje spätne zvyšovať úroveň techniky a overovať vedecké hypotézy. Rozvoj techniky a vedecký pokrok teda úzko súvisí s meraním.

Autor: Doc. Ing. Miroslav Mojžiš, CSc

Strana 26 z 71

Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.

Jak získat tento dokument?






Poznámky redaktora
Patrí sem predovšetkým vplyv vlastnej spotreby meracích prístrojov.Tieto chyby rozdeľujeme dve skupiny Základné chyby tie, ktoré merací prístroj vykazuje pri Vonkajšie rušenie Merací 4. 6. 2. 1.1 1. 5.26 (Pri každej chybe nasledovnom popise bude skratkou forme Vx, kde poradové číslo, uvedený pôvod chyby. prístroj prístroj Obsluha Meraný objekt Napájacia elektrická sieť . (V7) tejto skupiny patrí široký sortiment úvahy prichádzajúcich omylov nedôsledností strany experimentátora, ktoré môžu rozhodujúcim spôsobom ovplyvniť výsledok, prípadne úplne znehodnotiť. 7. pôvod vonkajších rušivých vplyvoch. 5. Chyby experimentátora. Napr. Chyby meracieho prístroja. Patrí sem nesprávna voľba meracej metódy, nesprávne zapojenie meracích prístrojov alebo typu meracích prístrojov, použitie nefunkčného meracieho prístroja (neoverený, bez nastavenia nuly), nesprávne použitie meracích prístrojov (napr. meracích prístrojov na objekt merania. nedodržaná poloha), atď. 3. Druhú podskupinu tvorí nesprávne odčítanie (nedôsledné, zaokrúhľovanie, odčítanie výchylky stupnici bez zrkadla (paralaxa), nesprávna interpolácia na stupnici) napokon patrí sem nesprávny výpočet meranej hodnoty odčítanej výchylky. Chyby metódy. ) 8. 3. . 5. Obr. (V3) Vznikajú pôsobením meracieho obvodu resp. 2. . Pri presnejšom posudzovaní mohli sme zaradiť tejto skupiny pôsobenie meracích prístrojov aj prostredníctvom ich magnetických elektrických polí meraný objekt. (V4,5,6) chyby vznikajúce meracom prístroji