Kniha je úvodem do metod praktického modelování, analýzy, návrhu a optimalizace elektrotechnických zařízeni na číslicovém počítači. Výklad je doprovázen jednoduchými názornými příklady řešených úloh z různých odvětví elektrotechniky.Kniha je určena inženýrům a technikům, kteří se zabývají moderním návrhem elektrotechnických zařízení.
Nejkritičtější součástí obvodu Zenerova dioda, která přispívá celkové
nestálosti UVII téměř Přitom skoro působí samotný parametr je
zřejmé, původní tolerance pro Dje příliš široká.
0. Druhou nejkritičtější součástí
je tranzistor TI. Tato střední směrodatná od
chylka pro střední hodnotu 3,60 odpovídá toleranci závislosti
na skutečném průběhu pravděpodobnostního rozložení tohoto parametru.20
-K
g 0,15
0,05
n
m=i_
a)
4000 4500 5000
tf3 )
5500
0,20
0-15
0-10
0,05
-17
b)
±L-16 -15
t V)
Obr. Většinu jeho příspěvku působí B1.
Z tabulek pro normální rozložení lze zjistit, dosažení zadané driftové
spolehlivosti 0,999 nesmí být Naů Nah menší než 4,0.lehlivost zvětšit tím, střední hodnota posune doprostřed přípustných mezí,
tj. Pro jednovoltovou
toleranci t/vu 0,25 0,0625. Má-li do
sáhnout splnění zadání pouze zúžením tolerance rozptyl nesmí být větší
než 0,062 0,036 0,025 99. Příspěvky rozptylu tah. Jelikož
uvedená čísla zahrnují vlivy jak velkých citlivostí, tak velkých rozptylů jednotli
vých parametrů, poskytují více informace než výsledky analýzy nejnepříznivějších
případů. Dříve vypočítané rovná 0,120 33,
z čehož přispívá složkou 0,696 0,120 0,083 819. 59
přesvědčivě ukazují, které parametry nejméně ovlivňují spolehlivost obvodu. Odpovídající člen (d[/VII/d£D)2ff2D, Jelikož
BVyJiEjj -12,355
° —
0,025 99
= 0,000 170 6
(—12,355)2
a 0,013 09, což znamená, zadání splněno. Obdobný
přístup mohl být uplatněn případě ostatních parametrů obvodu. UVII 16,000 citlivosti vyplývá, opravou 4235 posune L'vn
o 0,246 čímž spolehlivost zvětší 0,996 02. Ostatní dva tranzistory mají
na kolísání UVII jen nepatrný vliv. Všechny ostatní para
metry dohromady přispívají složkou 0,120 0,083 819 0,036 51. 156. Vstupní data zadávající relativní četnost odporu K,, výsledné rozložení relativní
četnosti napětí t/VII
435
