Pasivní snímače jsou provedeny jako odporové (měřicí potenciometry kontaktové, tenzomet-
rické, teplotně závislé), indukčnostní, kapacitní, ionizační aj.)., Teplého 1398, 530 Pardubice
.
Fyzikální podstatou piezoelektrických snímačů piezoelektrický jev, který spočívá tom, uvnitř
některých materiálů vzniká působením mechanické síly elektrická polarizace vedoucí vzniku
elektrického náboje.4 Princip činnosti
piezoelektrického snímače
Obr.5 Tenzometrické snímače
a) c)
drátkové fóliové polovodičové
IN-EL, spol.
Odporové snímače označované jako měřicí potenciometry jsou podstatě upravené potenciome-
try tak, jezdec posouvá nebo natáčí závislosti změně měřené neelektrické veličiny. 11.
Kontaktové odporové snímače pracují principu postupného spínání nebo rozpínání kontaktů
vlivem mechanického posuvu. 11. Odporové snímače nachází nejčastější
použití jako snímače polohy (výška hladiny, úhel natočení apod.
U F,
Ut (T1 T2) (T1 T2)2 [V; VK-1, K], (11. 11. o.
Působí-li síla směru elektrické osy krystal (obr. Pro ter-
moelektrické napětí, které vzniká mezi ohřívaným (měřicím) spojem studeným (srovnávacím)
spojem platí:
kde:
, součinitelé závisející druhu použitého materiálu rozdílu teplot spojů,
T1, teploty teplého studeného spoje.
Z fyzikální podstaty termočlánku vyplývá, termočlánek zdrojem termoelektrického napětí
úměrného teplotě měřicího spoje.
Spojíme-li vodivě obou koncích dva vhodné kovové materiály (obr.Princip termoelektrických snímačů spočívá využití Seebeckova termoelektrického jevu. Napětí
snímané jezdcem potenciometru úměrné měřené veličině.3), vzniká tomto
obvodu při rozdílné teplotě spojů termoelektrické napětí, jež úměrné rozdílu teplot.
Termoelektrické články používají měření teplot širokých mezích -200 100 °C.4), který piezoelektrické vlastnosti,
bude elektrodách přiložených stěny kolmé elektrické ose tohoto krystalu napětí:
kde:
ku napěťová konstanta snímače, která přímo úměrná piezoelektrické konstantě
a tloušťce výbrusu krystalu nepřímo úměrná permitivitě výbrusu ploše elektrod.1)
124
Obr. 11. Piezoelektrický jev závisí směru deformace vzhledem osám krystalu