Metodika elektrotechnických měření pro učební obor elektrikář – silnoproud

| Kategorie: Diplomové, bakalářské práce  |

Vydal: České vysoké učení technické Praha

Strana 52 z 97

Jak získat tento dokument?






Poznámky redaktora
indukčních elek- troměrů.  Teplota vlivem změn teplot mění elektrický odpor měřicích cívek, předřadníků či bočníků také magnetická indukce permanentních magnetů. Astatizování ale používá velmi málo (pouze přesných laboratorních přístrojů).  Vnější elektromagnetická pole toto pole působí zejména měřicí přístroje, které mají vlastní pole. Na údaj měřicího přístroje kvalitu měřeni působí nepříznivě také otřesy. Dostatečně lze vliv tření měřidel vyloučit použitím uložení závěsech. Vlivu rušivých mag- netických polí zabraňuje stíněním měřicího ústrojí krytem vyrobeným fero- magnetického materiálu nebo tzv. Vztažná teplota, při níž platí třída přesnosti přístroje, °C. Vliv kmitočtu výchylku ručky přístroje tedy jeho použitelnost pro měření uvedeme každé soustavy zvlášť.  Kmitočet změna kmitočtu (frekvence) způsobí změnu údaje těch přístrojů, je- jíchž pohybový moment závisí kmitočtu jak tomu např. výchylku ručky má vliv poloha přístroje, proto nutné používat přístroje pouze poloze, která je nakreslena číselníku. motorových vozi- dlech), vhodné položit měřicí přístroj měkkou podložku. Princip astatizování spočívá v tom, přístroji jsou dvě stejná měřicí ústrojí stejné ose jsou zapojena tak, že točivé momenty vyvolané měřenou veličinou sčítají momenty vyvolané ruši- vým magnetickým polem odečítají. Předřadníky boč- níky proto umisťujeme přední části přístroje, aby svou teplotou neovlivňovaly měřicí cívky. krytu přístroje musí být těchto místech otvory pro vstup chladící- ho vzduchu.49 tivního momentu spirálových pružin, tím ale vzroste spotřeba sníží citlivost přístroje. astatizováním. Když měříme prostředí, kde jsou vibrace otřesy běžné (např. Předřadníky jsou vyrobeny manganinu, protože nepatrnou závislost elektric- kého odporu teplotě. Zejména jsou elektrodynamické přístroje. Vliv některých dalších veličin probereme příslušných soustav měřicích přístrojů, kterých tyto vlivy týkají.