Ukázka skript Elektrotechnická měření - pracovní sešit pro třetí ročník
KONTROLA A CEJCHOVÁNÍ MĚŘÍCÍCH PŘÍSTROJŮ
- Kontrola spočívá ve stanovení chyby kontrolované stupnice.
- Cejchování spočívá v nakreslení nové stupnice, přičemž měrné body vynášíme podle
normálového přístroje.
Při kontrole postupujeme tak, že celé dílky nastavujeme na kontrolovaném přístroji a
na přesném přístroji odečítáme správný údaj.
Používáme ten druh proudu pro který je přístroj určen.
1) Kontrola voltmetru
Výpočty:
absolutní chyba:
Ap=
N- naměřená hodnota
(hodnota na kontrolovaném přístroji)
S- skutečná hodnota
(hodnota na přesném přístroji)
korekce:
K=
relativní chyba:
ÓRM =
M= měřící rozsah
Třídu přesnosti určíme tak, že zjištěnou největší relativní chybu zaokrouhlíme na
nejbližší vyšší hodnotu tříd přesnosti stanovených normou z řady 0,1; 0,2; 0,5; 1; 1,5;
2,5; 5. Korekční křivka- závislost K= f (a)
Jediná křivka jejíž body spojujeme přímkami (neprokládáme)
Příklad tabulky:
Kontrolovaný voltmetr přesný voltmetr ...
Autor: Střední průmyslová škola a Vyšší odborná škola, Chomutov
Strana 69 z 125
Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.
cz■lacina@ spscv. diody
- doba zotavení polovod. diody
b) Měření vstupní výstupní impedance zesilovačů
- předpokládané hodnoty Zvst Zvýst
- schéma, odvození postup při měření vstupní výstupní impedance
27a) Měření analogovém multiplexeru
- měření odporu spínačů sepnutém stavu
- měření přepínací doby
- měření průniku přeslechu
b) Automatizované měřící systémy
- rozdělení měřících systémů
- vývojový systém Agilent VEE Pro
Střední prům yslová škola Vyšší odborná škola, Chom utov, Školní 50, příspěvková organizace
Školní 1060/50, 430 Chom utov
Telefon 474 628992 ředitel/fax 474 627497, 724346488 e-m ail: prum vslovka@ spscv.cz
IČO: 47796006 č. 2110740287/0100 Chom utov
.ú.Střední průmyslová škola Vyšší odborná škola, Chomutov, Školní 50, příspěvková organizace
24a) Měření charakteristik unipolárního tranzistoru jeho vlastností
- měření výstupních charakteristik
- měření převodních charakteristik
- měření odporu sepnutém stavu
- měření prahového průrazného napětí
b) Kamerové inspekční systémy
- princip využití,typy kamer,komunikační rozhraní,
- způsoby osvětlení,
- software pro zpracování
25a) Měření charakteristik fotoelektrických součástek
- fotoodpor, fotodioda, fototranzistor optron
- zapojení, postup při měření popis charakteristik
b) Osciloskopy
- princip spouštěné časové základny
- princip dvoukanálového osciloskopu
- pasivní aktivní sondy osciloskopu
26a) Měření charakteristik polovodičových diod
- charakteristiky jejich měření
- vliv teploty chování polovod
