Materiál týmu pracovníků elektrotechnických laboratoří

| Kategorie: Skripta  | Tento dokument chci!

Ukázka skript Elektrotechnická měření - pracovní sešit pro třetí ročník KONTROLA A CEJCHOVÁNÍ MĚŘÍCÍCH PŘÍSTROJŮ - Kontrola spočívá ve stanovení chyby kontrolované stupnice. - Cejchování spočívá v nakreslení nové stupnice, přičemž měrné body vynášíme podle normálového přístroje. Při kontrole postupujeme tak, že celé dílky nastavujeme na kontrolovaném přístroji a na přesném přístroji odečítáme správný údaj. Používáme ten druh proudu pro který je přístroj určen. 1) Kontrola voltmetru Výpočty: absolutní chyba: Ap= N- naměřená hodnota (hodnota na kontrolovaném přístroji) S- skutečná hodnota (hodnota na přesném přístroji) korekce: K= relativní chyba: ÓRM = M= měřící rozsah Třídu přesnosti určíme tak, že zjištěnou největší relativní chybu zaokrouhlíme na nejbližší vyšší hodnotu tříd přesnosti stanovených normou z řady 0,1; 0,2; 0,5; 1; 1,5; 2,5; 5. Korekční křivka- závislost K= f (a) Jediná křivka jejíž body spojujeme přímkami (neprokládáme) Příklad tabulky: Kontrolovaný voltmetr přesný voltmetr ...

Autor: Střední průmyslová škola a Vyšší odborná škola, Chomutov

Strana 69 z 125

Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.

Jak získat tento dokument?






Poznámky redaktora
cz IČO: 47796006 č. diody b) Měření vstupní výstupní impedance zesilovačů - předpokládané hodnoty Zvst Zvýst - schéma, odvození postup při měření vstupní výstupní impedance 27a) Měření analogovém multiplexeru - měření odporu spínačů sepnutém stavu - měření přepínací doby - měření průniku přeslechu b) Automatizované měřící systémy - rozdělení měřících systémů - vývojový systém Agilent VEE Pro Střední prům yslová škola Vyšší odborná škola, Chom utov, Školní 50, příspěvková organizace Školní 1060/50, 430 Chom utov Telefon 474 628992 ředitel/fax 474 627497, 724346488 e-m ail: prum vslovka@ spscv.Střední průmyslová škola Vyšší odborná škola, Chomutov, Školní 50, příspěvková organizace 24a) Měření charakteristik unipolárního tranzistoru jeho vlastností - měření výstupních charakteristik - měření převodních charakteristik - měření odporu sepnutém stavu - měření prahového průrazného napětí b) Kamerové inspekční systémy - princip využití,typy kamer,komunikační rozhraní, - způsoby osvětlení, - software pro zpracování 25a) Měření charakteristik fotoelektrických součástek - fotoodpor, fotodioda, fototranzistor optron - zapojení, postup při měření popis charakteristik b) Osciloskopy - princip spouštěné časové základny - princip dvoukanálového osciloskopu - pasivní aktivní sondy osciloskopu 26a) Měření charakteristik polovodičových diod - charakteristiky jejich měření - vliv teploty chování polovod. diody - doba zotavení polovod.cz■lacina@ spscv. 2110740287/0100 Chom utov .ú