Ukázka skript Elektrotechnická měření - pracovní sešit pro třetí ročník
KONTROLA A CEJCHOVÁNÍ MĚŘÍCÍCH PŘÍSTROJŮ
- Kontrola spočívá ve stanovení chyby kontrolované stupnice.
- Cejchování spočívá v nakreslení nové stupnice, přičemž měrné body vynášíme podle
normálového přístroje.
Při kontrole postupujeme tak, že celé dílky nastavujeme na kontrolovaném přístroji a
na přesném přístroji odečítáme správný údaj.
Používáme ten druh proudu pro který je přístroj určen.
1) Kontrola voltmetru
Výpočty:
absolutní chyba:
Ap=
N- naměřená hodnota
(hodnota na kontrolovaném přístroji)
S- skutečná hodnota
(hodnota na přesném přístroji)
korekce:
K=
relativní chyba:
ÓRM =
M= měřící rozsah
Třídu přesnosti určíme tak, že zjištěnou největší relativní chybu zaokrouhlíme na
nejbližší vyšší hodnotu tříd přesnosti stanovených normou z řady 0,1; 0,2; 0,5; 1; 1,5;
2,5; 5. Korekční křivka- závislost K= f (a)
Jediná křivka jejíž body spojujeme přímkami (neprokládáme)
Příklad tabulky:
Kontrolovaný voltmetr přesný voltmetr ...
Autor: Střední průmyslová škola a Vyšší odborná škola, Chomutov
Strana 65 z 125
Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.
schéma milivoltmetru )
6a) Elektromagnetická, elektrodynamická elektrostatická soustava
- princip činnosti, konstrukce, použití, změna rozsahu
- výhody nevýhody
b) Měření kapacity Zenerovy diody
- Zenerova dioda vlastnosti, použití, charakteristika
- vznik kapacity diody fyzikálního hlediska
- schéma zapojení, postup při měření
7a) Měření charakteristik bipolárního tranzistoru
- pracovní oblast tranzistoru
- měření vstupních výstupních charakteristik
- konstrukce převodních charakteristik
- stanovení parametrů
b) Měření integrovaných stabilizátorech napětí řady 78XX
- přehled vlastnosti vyráběných integrovaných stabilizátorů řady 78XX
- úprava zapojení pro dosažení požadovaných hodnot napětí
- měření zatěžovací charakteristiky
- zdroj proudu MA78XX
8a) Analogové digitální filtry
- základní rozdíly, výhody nevýhody
- dolní, horní pásmová propust (schéma, postup při odvození)
- princip digitálního filtru
b) Měření logických obvodech TTL
- zákl. obvodu, popis funkce
- měření převodní charakteristiky obvodu NAND
- měření zatěžovací charakteristiky obvodu NAND
- měření vstupní charakteristiky obvodu NAND
9a) Normály elektrických veličin
- etalon elektrického odporu rozdělení, konstrukce
- etalon kapacity rozdělení
- etalon indukčnosti rozdělení
b) Měření odporů pomocí Thomsonova můstku
Střední prům yslová škola Vyšší odborná škola, Chom utov, Školní 50, příspěvková organizace
Školní 1060/50, 430 Chom utov
Telefon 474 628992 ředitel/fax 474 627497, 724346488 e-m ail: prum yslovka@ spscv. vlastnosti log. 2110740287/0100 Chom utov
.třed prům yslová škola Vyšší odborná škola, hom utov, Školní 50, příspěvková organizace
V
5a) Změna rozsahu měřících přístrojů
- odvození vztahů pro výpočet předřadného odporu bočníku
- změna rozsahu ostatních měřících přístrojů děliče, řazení skupin cívek ,odbočky )
b) Elektronické voltmetry
- vlastnosti
- stejnosměrné voltmetry
- střídavé voltmetry jednotlivé typy, blok.cz
IČO: 47796006 č.ú.cz, lacina@ spscv
