Konference Kurz osvětlovací techniky XXVII je tradičním, jak je již z názvu patrno,27. setkáním všech, kteří se světelnou technikou pracují, mají k ní co říct a mají jitaké rádi.Česká společnost pro osvětlování regionální skupina Ostrava se touto akcí snažípřispět k pravidelné výměně informací a řešení problémů, které se v oblastiosvětlování během roku vyskytnou.Zaměření konference je tradiční, nicméně jsme se snažili vyzvednout následující, dlenašeho názoru, nejaktuálnější témata:ENERGETICKÉ AUDITY BUDOV A SVĚTELNÉ DIODYI v rámci tohoto hesla je konference rozdělena do několika odborných sekcí.• Hygiena• Vnitřní osvětlení• Venkovní osvětlení• Elektro• Veřejné osvětleníZa pořadatele konference přeji všem účastníkům mnoho odborných i společenskýchzážitků.Předseda ČSO RS Ostravaprof. Ing. Karel Sokanský, CSc.
1) krokem
1 nebo nm, pro dosažení odpovídající přesnosti posuzování.
Spektrofotometr firmy JETI tyto základní technické parametry :
Parametry optického systému
Měřící rozsah 380 .. 380 780 nm, provádí mobilním,
automatickým spektrofotometrem JETI Specbos 1200 (Software version 4. 780 nm
Spektrální rozlišení nm
Digitáoní spektrální rozlišení 4. Měřící sestava pro parametrické hodnocení posuzování světelných diod
(bez napájecího zdroje ostatních měřících přístrojů)
Nátěry jsou provedeny souladu zavedenou metodikou CIE, měřící okénko kalibrovaný
otvor, umožňující velmi přesné měření hodnot L. Proto byl vyvinut zhotoven speciální kulový integrátor, který vyobrazen na
obrázku přesně definovanou vnitřní plochou.258 Kurz osvětlovací techniky XXVII
Měřící pracoviště pro parametrické posuzování světelných diod
S ohledem celkové rozměry světelných diod praktické využití stávajících kulových integrátorů
velmi problematické.1 nm
Digitální rozlišení bit ADC
Přesnost nastavení vlnové délky 0.
Mobilní spektrofotometr
Vlastní měření rozložení spektrálních energií spektrální analýza) jako základ
parametrického hodnocení posuzování světelných diod pro obor vlnových délek ve
zvoleném oboru viditelného záření tj.
Ve střední části kulového integrátoru umisťuje držák elementem chladící plochy bez něho
pro zjištění základních parametrů světelných diod, shodě uvedeným popisem.5 nm
Měřící úhel 1,5°
.
Obr.
S ohledem to, těchto případech může element hladící plochy včetně světelné diody svými
neaktivními plochami ovlivňovat celkový výsledek měření, pro tento případ kulový integrátor vybaven
korekční žárovkou (světelnou diodou), umožňující provést spolehlivě korekci neaktivní části.
