Kurz osvětlovací techniky XXVII

| Kategorie: Sborník  | Tento dokument chci!

Konference Kurz osvětlovací techniky XXVII je tradičním, jak je již z názvu patrno,27. setkáním všech, kteří se světelnou technikou pracují, mají k ní co říct a mají jitaké rádi.Česká společnost pro osvětlování regionální skupina Ostrava se touto akcí snažípřispět k pravidelné výměně informací a řešení problémů, které se v oblastiosvětlování během roku vyskytnou.Zaměření konference je tradiční, nicméně jsme se snažili vyzvednout následující, dlenašeho názoru, nejaktuálnější témata:ENERGETICKÉ AUDITY BUDOV A SVĚTELNÉ DIODYI v rámci tohoto hesla je konference rozdělena do několika odborných sekcí.• Hygiena• Vnitřní osvětlení• Venkovní osvětlení• Elektro• Veřejné osvětleníZa pořadatele konference přeji všem účastníkům mnoho odborných i společenskýchzážitků.Předseda ČSO RS Ostravaprof. Ing. Karel Sokanský, CSc.

Vydal: ČSO Česká společnost pro osvětlování Autor: Česká společnost pro osvětlování

Strana 264 z 350

Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.

Jak získat tento dokument?






Poznámky redaktora
Obr.1 nm Digitální rozlišení bit ADC Přesnost nastavení vlnové délky 0.258 Kurz osvětlovací techniky XXVII Měřící pracoviště pro parametrické posuzování světelných diod S ohledem celkové rozměry světelných diod praktické využití stávajících kulových integrátorů velmi problematické.1) krokem 1 nebo nm, pro dosažení odpovídající přesnosti posuzování. 380 780 nm, provádí mobilním, automatickým spektrofotometrem JETI Specbos 1200 (Software version 4. Spektrofotometr firmy JETI tyto základní technické parametry : Parametry optického systému Měřící rozsah 380 . 780 nm Spektrální rozlišení nm Digitáoní spektrální rozlišení 4... Měřící sestava pro parametrické hodnocení posuzování světelných diod (bez napájecího zdroje ostatních měřících přístrojů) Nátěry jsou provedeny souladu zavedenou metodikou CIE, měřící okénko kalibrovaný otvor, umožňující velmi přesné měření hodnot L. S ohledem to, těchto případech může element hladící plochy včetně světelné diody svými neaktivními plochami ovlivňovat celkový výsledek měření, pro tento případ kulový integrátor vybaven korekční žárovkou (světelnou diodou), umožňující provést spolehlivě korekci neaktivní části.5 nm Měřící úhel 1,5° . Proto byl vyvinut zhotoven speciální kulový integrátor, který vyobrazen na obrázku přesně definovanou vnitřní plochou. Ve střední části kulového integrátoru umisťuje držák elementem chladící plochy bez něho pro zjištění základních parametrů světelných diod, shodě uvedeným popisem. Mobilní spektrofotometr Vlastní měření rozložení spektrálních energií spektrální analýza) jako základ parametrického hodnocení posuzování světelných diod pro obor vlnových délek ve zvoleném oboru viditelného záření tj