Kurz osvětlovací techniky XXIX

| Kategorie: Sborník  | Tento dokument chci!

15. října – 17. října 2012 HOTEL DLOUHÉ STRÁNĚKouty nad Desnou. Konference Kurz osvětlovací techniky XXIX je tradičním, jak je jiţ z názvupatrno, 29. setkáním všech, kteří se světelnou technikou pracují, mají k ní co řícta mají ji také rádi.Česká společnost pro osvětlování regionální skupina Ostrava se touto akcí snaţípřispět k pravidelné výměně informací a řešení problémů, které se v oblastiosvětlování během roku vyskytnou.Zaměření konference je tradiční, nicméně jsme se snaţili vyzvednoutnásledující, dle našeho názoru, nejaktuálnější témata:Elektro - certifikace svítidel- napájení nouzového osvětlení- inteligentní systémy řízeníHygiena -faktické poţadavky hygienické sluţby na osvětlení přikolaudačním řízení- měření umělého osvětlení podle nových poţadavkůVeřejné osvětlení- nové pohledy na osvětlování při mezopickém vidění- vyuţití bílého světla- energetické přínosy nových technologiíVnitřní osvětlení- nové normativní poţadavky na osvětlení- řešení jasových poměrů u svítidel osazených zejména LED- stanovení udrţovacího činiteleVenkovní osvětlení- osvětlování venkovních pracovních prostor- rušivé světlo – stanovení environmentálních zón- měření parametrů osvětlení v automobilovém průmysluWorkshop na téma- moţnosti získání dotací na VOZa pořadatele konference přeji všem účastníkům mnoho odborných ispolečenských záţitků.Předseda ČSO Ostravaprof. Ing. Karel Sokanský, CSc.

Vydal: ČSO Česká společnost pro osvětlování Autor: Česká společnost pro osvětlování

Strana 205 z 419

Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.

Jak získat tento dokument?






Poznámky redaktora
Integrální činitel odrazu materiálu tak určuje velikost světelného toku dopadajícího fotočlánek umístěný středu polokulové sféry. Princip reflektometru ukazuje obrázek 5: obrázek Princip reflektometru použitého při měření činitelů odrazu vybraných materiálů Světelný tok zdrojů světla obvodu polokulové sféry mnohonásobnými odrazy rozprostře dutině tvořené difúzní polokulovou sférou uzavřenou vzorkem zkoušeného materiálu. obrázek Řez fotometrickou plochou svítivosti materiálu smíšeným odrazem Proces mnohonásobných odrazů Při modelování mnohonásobných odrazů světla hraje významnou roli velikost integrálního činitele odrazu. Lze tedy určit pouze ekvivalentní integrální činitel odrazu, který při modelováni procesu mnohonásobných odrazů světelné scéně charakterizuje odrazné vlastnosti smíšeně odrážejícího materiálu podobně, jakoby jednalo ideální rozptylovač. Určení integrálního činitele odrazu materiálů vykazujících smíšený odraz obtížné, jelikož odrazné vlastnosti materiálu jsou různé pro různé směry dopadu odrazu světla.Některé skutečné materiály vykazují odrazné vlastnosti velmi blízké ideálním rozptylovačům, mnoho běžně používaných materiálů však vykazuje odrazné vlastnosti výrazně odlišné ideálního rozptylovače. Měření ekvivalentního činitele odrazu lze provést reflektometrem zkonstruovaným laboratoři světelné techniky ČVUT Praze, FEL, který vybaven dutinou difúzním povrchem, kde probíhají mnohonásobné odrazy. Jas povrchů vykazujících smíšený odraz pak není konstantní, fotometrická plocha jasu svítivosti obecný tvar (viz obrázek 4), materiál nelze charakterizovat směrově nezávislým integrálním činitelem odrazu při modelování světelné scény třeba počítat směrově závislou odrazovou funkcí . U takových materiálů většinou dochází smíšenému odrazu kombinaci zrcadlového difúzního odrazu. 196 Kurz osvětlovací techniky XXIX