Tento učební text byl původně určen k domácí přípravě z předmětu „Elektrotechnická
měření“ pro studenty III. ročníku Střední průmyslové školy elektrotechnické v Brně. Vznikl
na základě nedostatku vhodných studijních materiálů přepracováním dostupných
středoškolských učebnic, vysokoškolských skript a jiných odborných publikací.
Text byl koncipován tak, aby student získal přehled o základních analogových měřících
přístrojích a metodách měření základních aktivních i pasivních elektrických veličin.
Student by měl být schopen po absolvování třetího ročníku samostatně zvolit vhodnou
metodu měření a měřící prostředky pro danou měřící úlohu, provést praktické měření
a vypracovat protokol o provedeném měření. Na výuku teoretické části předmětu by
měly navazovat praktická laboratorní cvičení, kde by si studenti prakticky ověřili získané
vědomosti.
10.
S.
Pro činitel jakosti platí
r a>Lx o>R2R3C4 ®C2C4R2R3
_ R"c R"C4 '
10.Velkou výhodou Owenova můstku to, vyvažuje pouze pomocí odporových
dekád, měření indukčnosti není tedy třeba rozsáhlých kapacitních sádek.3 Q-metr
Pokud chceme znát pouze velikost činitele jakosti cívky nemusíme zjišťovat veli
kost její indukčnosti činného odporu, ale můžeme jej zjistit pomocí jednoduchého
jednoúčelového měřicího přístroje, nazývaného Q-metr.9
Schéma zapojení Q-metru. 10. Nejrozšířenější metodou těchto
přístrojů měření činitele jakosti založené měření rezonančních zvýšení napětí na
kmitavém obvodu C.
Při vyváženém můstku můžeme psát
(@ j®GX ,
1
j& C
R"
2 J
C2
Oddělením reálné imaginární části rovnice dostaneme
S ,
8 2
Lx R2R3C4.
Kmitavý obvod bývá sériový, sestaven měřené cívky Lxa Rxa proměnného kapa
citního normálu CNs malými ztrátami viz obr.
G,
BĚfli 1S3
.9.
Obr
