Elektromagnetická kompatibilita

| Kategorie: Skripta  | Tento dokument chci!

Vydal: Vysoká škola báňská-Technická univerzita Ostrava Autor: Pavel Santarius

Strana 62 z 110

Jak získat tento dokument?






Poznámky redaktora
K tomuto účelu využívají statistické metody následujícím postupem nejdříve roztřídí hodnoty naměřených úrovní flikru výstupu jednotky skončení sledované periody spočítá distribuční funkce.. Délka sledované periody min.. Dle normy definován algoritmus pro stanovení krátkodobé míry vjemu blikání ) .62 Je důležité zjistit nejen nejvyšší hodnotu, ale zjistit kolika procentech překročí hodnota flikru určitou úroveň během sledované periody. V algoritmu dle IEC definováno úrovní ... ( 2 2 1 1 n n st P K P K P K P + + + = kde jsou váhové koeficienty P1 jsou úrovně překročení distribuční funkci (percentily)