Elektromagnetická kompatibilita

| Kategorie: Skripta  | Tento dokument chci!

Vydal: Vysoká škola báňská-Technická univerzita Ostrava Autor: Pavel Santarius

Strana 62 z 110

Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.

Jak získat tento dokument?






Poznámky redaktora
V algoritmu dle IEC definováno úrovní . Dle normy definován algoritmus pro stanovení krátkodobé míry vjemu blikání ) .... K tomuto účelu využívají statistické metody následujícím postupem nejdříve roztřídí hodnoty naměřených úrovní flikru výstupu jednotky skončení sledované periody spočítá distribuční funkce.. ( 2 2 1 1 n n st P K P K P K P + + + = kde jsou váhové koeficienty P1 jsou úrovně překročení distribuční funkci (percentily). Délka sledované periody min.62 Je důležité zjistit nejen nejvyšší hodnotu, ale zjistit kolika procentech překročí hodnota flikru určitou úroveň během sledované periody