ČÍSLICOVÉ MERANIE Prednasky

| Kategorie: Skripta  | Tento dokument chci!

Tak ako v priebehu historického vývoja, tak aj v dnešnej dobe meranie úzko súvisí s rozvojom vedy a techniky. Pokrok v technike (nové technológie, nové materiály, elektronika, mikroelektronika, výpočtová technika) umožňuje zdokonaľovať meranie – meracie prístroje, meracie metódy a spôsoby spracovania nameraných hodnôt . Dokonalejšie meranie umožňuje objektívnejšie, presnejšie získavať údaje o objektoch a javoch, čo umožňuje spätne zvyšovať úroveň techniky a overovať vedecké hypotézy. Rozvoj techniky a vedecký pokrok teda úzko súvisí s meraním.

Autor: Doc. Ing. Miroslav Mojžiš, CSc

Strana 28 z 71

Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.

Jak získat tento dokument?






Poznámky redaktora
Eliminácia tohto vplyvu dosahuje niektorých prípadoch štvorvodičovým zapojením (meranie malých odporov). svorky prípravkom “Kontox”, liehom, benzínom neprístupných miestach prevedení spray“. permaloy (zliatina železa niklu) čím sa magnetické pole vnútri podstatne oslabí jednosmerné striedavé, alebo môžu byť z elektricky dobre vodivého materiálu (meď, hliník). obidvoch prípadoch nečistoty odstránime buď ofukovaním, prachovým štetcom alebo kontakty resp. Eliminácia vplyvu magnetického poľa dosahuje pomocou tieniacich krytov. prach) pôsobia rušivo rozoberateľných spojoch (napr. Patrí sem kolísanie napájacieho napätia bludné prúdy prípade, jednu vstupnú svorku majú uzemnenú. . Eliminácia vplyvu nečistôt. Tieto môžu byť buď magneticky dobre vodivého materiálu napr. 4. manganínu). druhom prípade striedavom magnetickom poli vznikajú kryte vírivé prúdy, ktoré svojim účinkom pôsobia proti príčine ich vzniku, čím sa striedavé magnetické pole vnútri krytu zoslabuje. Voči účinkom magnetického elektrického poľa chránime použitím tienených vodičov. Eliminačný účinok tienenia podstatne zvýši, ak prístroj alebo len jeho otočný systém (hlavná funkčná časť) uložený viacnásobnom kryte. Eliminácia vplyvu elektrického poľa dosahuje podobne tieniacim krytom elektricky dobre vodivého materiálu meď, mosadz, hliník, resp zliatiny železa, výnimočne striebro Kryt tvorí ekvipotenciálnu plochu teda plochu ktorej všade rovnaký elektrický potenciál. Rozoznávame dva druhy nečistôt. Elektricky vodivé pôsobia rušivo povrchu elektricky nevodivých častí, tým vzájomne spájajú elektricky vodivé (odkryté) miesta napr. Chyby meracieho obvodu. Tienenie účinné proti jednosmernému aj striedavému elektrickému poľu. Toto odpruženie chráni zároveň prístroj poškodenia pri jeho prekladaní a manipulácií ním. pripojovacie svorky prístroja. Pre ich nízku úroveň oproti základnej chybe meracích prístrojov nimi zaoberať nebudeme. b) Rušivé vplyvy malým účinkom Ovzdušie (jeho vlhkosť, tlak, prúdenie, chemické zloženie) žiarenie (svetelné, ultrafialové, röntgenové, rádioaktívne iné). Nečistoty odstránime zhodne ako prípade meracích prístrojov. Potom v jej vnútri intenzita elektrického poľa bude nulová. svorky prístroja). Eliminácia vplyvu otrasov dosahuje odpružením meracieho prístroja podkladu (gumové nôžky). Rušivý vplyv prechodových odporoch eliminujeme tým, použijeme rozoberateľné spoje (vypínače) kvalitnými kontaktmi (hladký povrch, materiál: zlato, kadmium, mosadz), definovanou prítlačnou silou povrch kontaktov udržujeme čistote. Elektricky nevodivé nečistoty napr. Eliminácia tohto vplyvu dosahuje rôznymi kompenzačnými zapojeniami týchto prvkov, použitím teplotne málo závislých materiálov, ustálením teploty všetkých súčiastkach meracieho prístroja (niekedy hodine jeho prevádzky).28 a) Rušivé vplyvy veľkým účinkom: magnetické pole, elektrické pole, teplota, mechanické otrasy, nečistoty. Eliminácia vplyvov teploty. Eliminujeme podobným spôsobom ako prípade meracieho prístroja. Vyskytujú len pri elektronických prístrojoch. Voči vplyvom teploty chránime kompenzačným zapojením, ustálením teploty, použitím teplotne málo závislých pasívnych prvkov (napr. obidvoch malým jednosmerným napätím vplyv prípadného termonapätia eliminujeme zmenou polarity zdroja meracích prístrojov druhom meraní výsledok stanovíme ako priemer obidvoch. Vplyv teploty rušivo prejavuje zmenou hodnoty pasívnych prvkov prístroji. Ďalšiu skupinu tvoria špecifické rušivé vplyvy