PRIEMYSELNÉ MERANIE prednasky

| Kategorie: Skripta  | Tento dokument chci!

Predkladaný vysokoškolský učebný text má elektronickú formu a obsahuje všeobecné poznatky súvisiace s teoretickou a praktickou výučbou v rámci predmetu „Informatické a priemyselné meranie“. Tento predmet je súčasťou študijných programov bakalárskeho štúdia na Fakulte elektrotechniky a informatiky Technickej univerzity v Košiciach. Jedná sa o akreditovaný študijný program: „Aplikovaná informatika“ v študijnom odbore „Aplikovaná informatika“.. Jeho absolvovaním študenti získajú . 6 kreditov.

Autor: Miroslav Mojžiš

Strana 12 z 79

Vámi hledaný text obsahuje tato stránku dokumentu který není autorem určen k veřejnému šíření.

Jak získat tento dokument?






Poznámky redaktora
stranu 16). 1. Etalóny postupne od najpresnejšieho menej presné označené rádom. Najpresnejší primárny etalón, ktorý nadväzujú sekundárne etalóny prvého, druhého ďalších rádov. Určí vzťahu: k kde rozsah jednotkách veličiny αr rozsah stupnice dielikoch α výchylku odčítame dosadíme v dielikoch. konštanta prístroja α výchylka jeho ukazovateľa X hodnota meranej veličiny udáva ako násobok niektorej jej jednotky (hlavná, násobná, dielčia, vid. Platná hodnota takejto jednotky potom priemerná všetkých tvoriacich skupinu. Používanie analógových meracích prístrojov Používanie analógových meracích prístrojov vyžaduje minimálne znalosť, základe ktorej odčítanej výchylky vieme určiť meranú hodnotu.5. Etalón prvého rádu tvorí tzv. rXtp (1. nejakú jednotku musí reprezentovať viac samostatných zariadení hovoríme skupinový etalón (napr. Pre analógové meracie prístroje platí základný vzťah: X kde hodnota meranej veličiny k tzv. tlak). k číslo, ktoré udáva aká hodnota veličiny spôsobí výchylku ukazovateľa dielik stupnice. X Xr/αr α/αr [j; (1. hlavný etalón svedecký etalón. Zápis tvar dekadického čísla, ktorým skratka príslušnej jednotky.Priemyselné meranie M - - Etalón francúzskeho), normál nemeckého), standard anglického jazyka) jednotky, je vzor fyzikálnej jednotky. Povolená (max) chyba ∆Xmx: ∆Xmx= 100 . Spravidla jedná reprodukčné zariadenie.1) Výsledná nameraná hodnota potom rovná súčinu rozsahu meracieho prístroja v jednotkách (j) meranej veličiny pomeru aktuálnej výchylky dielikoch) plnej výchylke v dielikoch. Svedecký etalón určený pre použitie prípade, hlavný sa poškodí, odcudzí pod.2)