Předkládaná bakalářská práce je zaměřena na praktický experiment a popis všech izolačních vrstev, které se nacházejí v izolačním systému kabelu. Popisuje dielektrické parametry, které jsou důležité z hlediska kontroly správné funkčnosti kabelu, a metody jejich měření. V práci je dále obsažena praktická část měření vybraných dielektrických parametrů, kde na dodaném vzorku popisuje měření povrchového a izolačního odporu, ztrátového činitele a permitivity. V závěru práce se nachází porovnání naměřených hodnot.
Optickými vlákny přenášené digitalizované signály jsou dále
zpracovávány počítačem, kde pomocí Fourierovy transformace vypočítá fázový rozdíl
základní frekvence zkušebního napětí. Jedna svorka napěťového zdroje připevnila jádro
kabelu, druhá pak povrchové elektrodě. Takto
upravený kabel byl zavěšen dostatečně daleko všech předmětů, čímž zvýšila přesnost
měření bezpečnost vůči zkratu. 3. Ukázka zavěšení kabelu detail připojení svorky
na elektrodu obr.Měření vybraných dielektrických parametrů izolačním systému kabelu Martin Loskot 2016
36
Můstek skládá měřící referenční větve. zajišťuje vysoce přesné měření kapacitu
CX měřeného objektu. [28]
Měření ztrátového činitele permitivity probíhalo stejně upraveném kabelu jako u
měření povrchového odporu, tedy kabelu elektrodami tvořenými měděnou páskou. Tato napětí jsou digitalizována pomocí bateriemi napájenými
vysoce přesnými senzory Každý senzor vybaven velkou impedancí,
nízkošumovým zesilovačem následovaným rychlým bitovým převodníkem a
elektrooptickým rozhraním.6 Zavěšení kabelu (vlevo), detail zapojení elektrody (vpravo)
Po zajištění všech bezpečnostních prvků probíhalo samotné měření, kdy postupně
v krocích 100 zvyšovalo napětí 500 přístroj LDV-5 každém kroku
uložil hodnotu ztrátového činitele permitivity pevný disk.
Obr. Referenční větev obsahuje vysokonapěťový
normálový kondenzátor zapojený série nízkonapěťovým kondenzátorem CR.6. Tento postup opakoval
. Ztrátový činitel určí změřeného fázového úhlu mezi napětími na
kondenzátorech CR. Měřící větev lze považovat napěťový
dělič, kde představuje kapacitu měřeného objektu zapojeného série
s nízkonapěťovým kondenzátorem CM.
Scheringův můstek nemusí být pro měření zcela vyvážen, jako tomu případě
obvyklých můstků. 3
